4-й Белорусский семинар по СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ  Гомель • Беларусь • 24–25 октября 2000 г.	Сборник докладов
ПРОГРАММА | ВСЕ СЕМИНАРЫ БелСЗМ >>

СБОРНИК ДОКЛАДОВ

Сборник издан при финансовой поддержке
БЕЛОРУССКОГО РЕСПУБЛИКАНСКОГО
ФОНДА ФУНДАМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ

Доклады, опубликованные в сборнике, доступны в .PDF формате. (здесь загружается обложка сборника >>).	Download
Плескачевский Ю. М., Суслов А. А. Сканирующая зондовая микроскопия и ее приложения // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 6-9
Свириденок А. И. Некоторые актуальные достижения нанотрибологии // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 10-13
Чижик С. А., Горбунов В. В., Мышкин Н. К., Лузинов И., Фучигами Н., Цукрук В. В. Силовая спектроскопия нанослоев полимеров на жесткой подложке // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 14-15
Sveklo I. F. In-situ control of AFM-scanner nonlinearity // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 19-21
Жарин А. Л., Шипица Н. А., Сарока Д. И. Метод исследования поверхности металлов методом Кельвина // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 22-26
Волгунов Д. Г., Бирюков А. В., Гапонов С. В., Миронов В. Л., Чижик С. А. Особенности взаимодействия зонда с поверхностью в shear force микроскопе с резонансным пьезоэлектрическим датчиком силы // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 27-31
Жавнерко Г. К., Агабеков В. Е., Галлямов М. О., Яминский И. В., Рогач А. Л., Гурин В. С. Исследование с помощью АСМ особенностей структуры мономолекулярных композиционных пленок бегеновой кислоты с CdTe наночастицами // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 32-35
Сергеев О. В., Борисенко В. Е., Хайдерхоф Р., Бальк Л. Дж. Реализация сканирующего ближнеполевого оптического микроскопа для катодолюминесцентного микроанализа со сверхвысоким разрешением // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 36-39
Сергеев О. В., Гапоненко Н. В., Молчан И. C., Борисенко В. Е., Хайдерхоф Р., Бальк Л. Дж. Ближнеполевая катодолюминесценция, фотолюминесценция и структурные особенности тербийсодержащих пленок ксерогелей оксида титана, сформированных в порах анодного оксида алюминия // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 40-43
Матюхина Т. Г., Комков О. Ю., Чижик С. А. АСМ-исследование клеток сердечно-сосудистой системы и крови. Проблемы и надежды // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 44-47
Chumakova O. V., Liopo A. V., Komkov O. Yu., Chizhik S. A. Damaging effect of acetaldehyde on the membrane of striatal synaptosomes as evaluated by atomic-force microscopy // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 48-50
Емельянов В. А., Пономарь В. Н., Ухов В. А., Чигирь Г. Г. Применение сканирующей зондовой микроскопии в технологии микроэлектроники // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 51-53
Почтенный А. Е., Стукалов О. М., Бирюков А. Г., Гапонов С. В., Миронов В. Л., Волгунов Д. Г. Фотоиндуцированные локальные туннельные токи в тонких сенсорных пленках на основе фталоцианина меди // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 54-59
Андреев М. А., Чекан В. А., Маркова Л. В., Кузнецова Т. А. Атомно-силовая микроскопия как метод исследования структуры тонких ионно-лучевых покрытий на основе хрома // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 60-63
Паньков В. В., Козлов С. В., Куницкий Л. И., Стукалов О. М. Исследование процессов образования пленок многокомпонентных оксидов металлов, полученных методом реакционной диффузии // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 64-68
Стукалов О. М., Мисевич А. В., Почтенный А. Е. Влияние толщины, состава, температуры и среды отжига на морфологию тонких сенсорных пленок на основе фталоцианина меди // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 69-74
Чижик С. А., Ан Х.-С., Лузинов И., Горбунов В. В., Дубравин А. М., Цукрук В. В. Изображения фазового контраста для твердых материалов и их интерпретация методом силовой спектроскопии // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 75-80
Мышкин Н. К., Чижик С. А., Петроковец М. И. Масштабный фактор в трибологии и зондовая микроскопия // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 81
Горбунов В.В., Фучигами Н., Цукрук В. В. Анализ локальной теплопроводности поверхности материалов с помощью сканирующей термической микроскопии // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 82-86
Горбунов В. В., Фучигами Н., Лузинов И. А., Цукрук В. В. Анализ температуры стеклования сверхтонких полимерных пленок с использованием сканирующей термической микроскопии // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 87-90
Овчинников Е. В., Струк В. А., Федоров Д. И. Морфология тонкослойных покрытий на полимерных волокнах // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 91-94
Овчинников Е. В., Федоров Д. И. Влияние морфологии покрытий на физико-механические свойства подложек // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 95-98
Мушовец И. И., Полевиков В. М., Хмыль А. А. АСМ анализ начальных стадий электрокристализации покрытий серебра на поверхностях кремния // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 99-102
Дубравин А. М., Ан Х.-С., Попов А. Н., Казаченко В. П., Цуан Янь, Чижик С. А. АСМ анализ дорожек трения на углеродном покрытии // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 103-106
Стогний А. И., Корякин С. В., Бородько В. И., Новицкий Н. Н., Стукалов О. М. Исследование поверхности многослойных плёнок Co/Cu, формируемых ионным распылением и ассистированием в аргон-гелиевой среде // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 107-108
Корнийчук М. Б., Анищик В. М. Структурно-фазовые изменения поверхности кобальта, имплантированного ионами сурьмы // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 109-110
Кухаренко Л. В., Акулов Г. Ю., Ильич Г. К., Лещенко В. Г., Анищик В. М., Грушевский В. В., Крылова Г. В., Хмельницкий А. И. Особенности морфологии Fe-содержащих пленок Ленгмюра-Блоджетт, исследованные методом АСМ // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 111-115
Полевиков В. М., Федосенко Н. Н., Шолох В. Г., Шельманов А. И., Емельянов В. А. Исследование топологии поверхности локальных осадков серебра методом атомно-силовой микроскопии // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 116-117
Булыга А. В. О механизме туннелирования электронов сквозь создаваемый ими барьер пространственного заряда в межэлектродном зазоре вакуумного диода // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 118-121
Игнатовский М. И. Методы сегментации АСМ и СТМ изображений. Распознавание и описание кластерных объектов поверхности в нанодиапазоне // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 122-126
Киселевский О. С. Методика мультифрактального анализа поверхностей по данным атомно-силовой микроскопии // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 127-131
Евтухов А. М. Влияние формы острия зонда на фрактальную размерность профиля рельефа // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 132-134
Гайдук Н. Б. Компьютерное моделирование как метод анализа АСМ-изображений контактных поверхностей // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 135-139
Ковалев А. В., Чикунов В. В. Методики калибровки и проведения измерений для АСМ, работающего в режиме силовой модуляции // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 140-144
Болтушкин А. В., Шадров В. Г., Стукалов О. М. Морфология поверхности и магнитные свойства электролитически осажденных пленок сплавов на основе Со // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 145-146
Суслов А. А., Чижик С. А., Гайдук Н. Б., Тишков Н. И., Плескачевский Ю. М. АСМ-анализ массопереноса в адгезионных соединениях полимер-металл // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 147-149

Design and support by MICROTESTMACHINES