•
ВСЕ СЕМИНАРЫ БелСЗМ
•
ДОКЛАДЫ »»
• ФОТОАЛЬБОМ
•
ПРОГРАММА
•
ПРИГЛАШЕНИЕ
•
ОРГАНИЗАТОРЫ
• ОРГ. КОМИТЕТ
• ТЕМАТИКА
• МЕСТО И ВРЕМЯ
• РЕГЛАМЕНТ
• ПУБЛИКАЦИЯ
• ОПЛАТА
• РАЗМЕЩЕНИЕ
• ЗАЯВКА НА УЧАСТИЕ
• АДРЕС
Библиографическая информация
Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии VIII Международный семинар. Сборник
докладов. Минск, 8–10 октября 2008 г. – Минск: Институт тепло- и массообмена
им. А. В. Лыкова НАН Беларуси, 2008. – 240 с. – ISBN 978-985-6456-63-6
ПРЕДЫДУЩИЕ
СЕМИНАРЫ |
БелСЗМ-VII
Минск, ноябрь 2006 г.
(ИТМО НАНБ) БелСЗМ-6
Минск, октябрь 2004 г.
(ИТМО НАНБ)
БелСЗМ-5
Минск, октябрь 2002 г.
(ИФТТП НАНБ)
БелСЗМ-4
Гомель, октябрь 2000 г.
(ИММС НАНБ)
БелСЗМ-3
Гродно, октябрь 1998 г.
(ОПР НАНБ)
БелСЗМ-2
Минск, май 1997 г.
(ИФТТП НАНБ)
БелСЗМ-1
Гомель, апрель 1996 г.
(ИММС НАНБ) |
ДЛЯ
КОНТАКТОВ |
Оргкомитет БелСЗМ-VIII
ГНУ "Институт тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова НАН Беларуси"
ул. П.Бровки 15,
220072 г. Минск, Беларусь
Тел.: +375 17 2841060
Факс: +375 17 2842212 (резервный +375 232 715463)
e-mail: byspm@mail.ru
(резервный - microtm@mail.ru)
Internet: belszm.narod.ru
Телефоны для справок:
Чижик Сергей Антонович +375 17 2842137,
+375 29 6841060 (моб.)
Абетковская Светлана Олеговна -
+375 17 2841060,
+375 29 5578530 (моб.)
Суслов Андрей Анатольевич -
+375 232 715463,
+375 29 6774642 (моб.)
|
|
|
|
|
|
|
|
|
••• ДОКЛАДЫ
СЕМИНАРА |
|
- Свириденок А.И., Чижик С.А. Сканирующая
зондовая микроскопия –"глаза и руки
нанотехнологий" // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008.
- С.3—10
275
kB
-
Sukhanova T. E., Volkov A.Ya., Vylegzhanina M.E., Matveeva G.N.,
Kutin A.A., Gubanova G.N., Grigoriev A.I., Santurian J.G., Panarin
E.F., and Goerigk G. AFM, X-ray and electron microscopy study of
silver nanoparticles stabilized by amphiphilic polymers // Методологические аспекты
сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов.
- Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.11—16
460
kB
-
Миронов В.Л., Ермолаева О.Л., Фраерман А.А. Влияние зонда
магнитно-силового микроскопа на намагниченность исследуемых
образцов // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный
семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.17—22
342
kB
-
Бондаренко М.А., Бондаренко Ю.Ю., Канашевич Г.В., Яценко И.В.,
Ващенко В.А., Конопальцева Л.И Исследование поверхностей
пьезокерамических элементов, модифицированных электронным потоком
методом атомно-силовой микроскопии // Методологические аспекты сканирующей зондовой
микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН
Беларуси, 2008. - С.23—26
680
kB
-
Чижик С.А. Основные направления развития сканирующей
зондовой микроскопии в Беларуси // Методологические аспекты сканирующей зондовой
микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН
Беларуси, 2008. - С.27—32
293
kB
-
Суханова T.E., Вылегжанина М.Э., Шибинский Н.А., Волков A.Я.,
Валуева С.В., Хлебосолова Е.Н., Федосеенко С.И., Адамчук В.К.,
Ефимов И.П. АСМ-исследование наночастиц платины,
стабилизированных различными полимерными матрицами, предотвращающими
агрегацию // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII
Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. -
С.33—37
418
kB
-
Gubanova G.N., Sukhanova T.E., Vylegzhanina M.E., Grigoriev A.I.,
Bershtein V.A. Atomic force microscopy and structural
investigations of R-BAPB-type polyimide films modified by carbon
nanofibers // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII
Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. -
С.38—42
267
kB
-
Жавнерко Г.К., Агабеков В.Е., Марчик Н.А. Пленки
Ленгмюра-Блоджетт амфифильных полимеров // Методологические аспекты сканирующей
зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск:
ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.43—46
439
kB
-
Шадрина В.И., Башмаков И.А., Жавнерко Г.К., Агабеков В.Е,
Капуцкий Ф.Н. Исследование морфологии микроструктурированных
сетчатых пленок с помощью сканирующей зондовой микроскопии // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник
докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.47—50
436
kB
-
Лисовская Г.Б., Жавнерко Г.К., Чижик С.А. Диагностика
прекурсоров желатиновых капсул с помощью атомно-силовой
и сканирующей электронной микроскопии // Методологические аспекты сканирующей
зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск:
ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.51—55
481
kB
-
Кузнецова Т.А., Худолей А.Л., Акулич В.В.
Наноструктурирование алмазоподобных пленок // Методологические аспекты сканирующей
зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск:
ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.56—63
656
kB
-
Игнатовский М.И., Кравцевич А.В. Морфология
поливиниловых пленок, модифицированных микро- и наночастицами // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник
докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.64—71
695
kB
-
Худолей А.Л., Кузнецова Т.А., Чижик С.А. Выявление
сплошности соединения и межфазных границ наплавленных покрытий из
медных сплавов // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008.
- С.72—79
738
kB
-
Барайшук С.М., Ташлыков И.С., Туровец А.И. Применение АСМ при
изучении морфологии поверхности графита, подвергнутого ионно-лучевой
обработке // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII
Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. -
С.80—84
399
kB
-
Баран Л.В. Исследование локальных электрических свойств
пленок титан–фуллерит методом электросиловой микроскопии // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник
докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.85—90
596
kB
-
Кузнецова Т.А., Нгуен Хоанг Иен, Чижик С.А. Исследование
зависимости структуры молекулярно тонких пленок полимера
поливинилпиридина от температуры // Методологические аспекты сканирующей зондовой
микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН
Беларуси, 2008. - С.91—95
639
kB
-
Кухаренко Л.В., Крылов А.Б., Лещенко В.Г., Ильич Г.К.
Обучение студентов с использованием глобальной сети интернет по теме
"Зондовая микроскопия в медико-биологических исследованиях" // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник
докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.96—97
131
kB
-
Кухаренко Л.В., Фукс Х., Циркунова Н.Г., Кухаренко А.А.,
Бараймуков В.Ю., Лещенко В.Г. Атомно-силовая микроскопия в
исследовании морфологии поверхности клеток при апоптозе // Методологические аспекты
сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов.
- Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.98—101
528
kB
-
Стародубцева М.Н., Егоренков Н. И. Микроскопия латеральных
сил клеточных структур // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008.
- С.102—107
563
kB
-
Никитина И.А., Стародубцева М.Н., Грицук А.И. Использование
атомно-силовой микро-скопии для изучения тимоцитов крыс // Методологические аспекты
сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов.
- Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.108—113
409
kB
-
Дрозд Е.С., Чижик С.А., Квитко О.В., Конева И.И., Шейко Я.И.
Исследование опухолевых клеток методом атомно-силовой
микроскопии // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII
Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. -
С.114—118
332
kB
-
Ясинский В.М., Чикунов В.В. Сканирующий ближнеполевой
оптический микроскоп // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008.
- С.119—122
273
kB
-
Бауков В.В., Жижимонтов В.В., Беляев А.В. Низкошумящий датчик
отклонения кантилевера для атомно-силового микроскопа // Методологические аспекты
сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов.
- Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.123—128
376
kB
-
Грищенко Ю.В., Занавескин М.Л., Калачикова Е.С., Толстихина А.Л.Определение
параметров регулярных поверхностных наноструктур по данным атомно-силовой микроскопии
с помощью функции спектральной плотности мощности // Методологические аспекты
сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов.
- Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.129—131
270
kB
-
Vo Thanh Tung, Chizhik S.A., Chikunov V.V., Siroezkin S. V., Tran
Xuan Hoai, Nguyen Thi Hong Introduction to a quartz tuning fork
combined with scanning probe microscope // Методологические аспекты сканирующей
зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск:
ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.132—141
538
kB
-
Vo Thanh Tung Development of a tuning fork based atomic force
microscopy (Fork-AFM) for imaging on erythrocytes // Методологические аспекты
сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов.
- Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.142—147
304
kB
-
Нгуен Тхи Хонг, Во Тхань Тунг, Чижик С. А. Роль добротности
камертоного датчика в атомно-силовой микроскопии // Методологические аспекты
сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов.
- Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.148—153
405
kB
-
Айзикович С.М., Кренев Л.И., Кузнецова Т.А., Чижик С.А.Внедрение сферического
штампа в функционально-градиентный слой с изменяющимися модулем Юнга и коэффициентом
Пуассона // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный
семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.154—156
210
kB
-
Баркалин В.В., Чашинский А.С., Жучек П.А., Чижик С.А.Молекулярно-динамическая
модель зонда на основе углеродной нанотрубки // Методологические аспекты сканирующей
зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск:
ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.157—162
555
kB
-
Абетковская С.О. Оценка предельных возможностей неразрушающей
нанотомографии на базе динамического режима АСМ // Методологические аспекты
сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов.
- Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.163—169
293
kB
-
Погоцкая И.В., Абетковская С.О., Чижик С.А. Влияние
физико-механических свойств «мягких» материалов на
характеристики колебаний зонда в динамической атомно-силовой
микроскопии // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII
Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. -
С.169—174
295
kB
-
Белозерцева В.И., Хляп Г.М., Дьяконенко Н.Л., Мамалуй А.А., Гаман
Д.А. Особенности структуры и свойств Тонких пленок NaBiTe2 //
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный
семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.175—180
515
kB
-
Кузнецова Т.А., Маркова Л.В., Андреев М.А. Исследование
структуры многослойных вакуумных покрытий методом атомно-силовой
микроскопии // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII
Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. -
С.181—187
365
kB
-
Джилавдари И.З., Ризноокая Н.Н. Измерение гистерезисных
потерь и работы адгезии на отрыв на участках субмикронной длины // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник
докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.188—193
275
kB
-
Zhytkova M.A., Rymuza Z., Chizhik S.A., Ocypa L. Possible
causes of Young modulus jump near-surface
of the thin polymer films // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008.
- С.194—197
183
kB
-
Гайнутдинов Р.В., Волк Т.Р., Толстихина А.Л., Ивлева Л.И., Лысова
О.А., Разгонов И.И. Исследование процессов переключения в
сегнетоэлектрических кристаллах ниобата бария–стронция методом
атомно-силовой микроскопии // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008.
- С.198—203
431
kB
-
Шарапов В.М., Филимонов С.А. Сканер для зондовых
наномикроскопов на основе биморфных пьезоэлементов // Методологические аспекты
сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов.
- Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.204—209
280
kB
-
Ковалева С.А., Пилипенко В.А., Сякерский В.С., Петлицкая Т.В.,
Витязь П.А., Буйко Л.Д. Морфология и структура локальных
анодных пленок оксида кремния, полученных зондовым окислением с
использованием атомно-силового микроскопа // Методологические аспекты сканирующей
зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск:
ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.210—214
629
kB
-
Скоркина М.Ю., Сладкова Е.А. Исследование морфометрических
параметров эритроцитов лягушек методом сканирующей зондовой
микроскопии // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII
Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. -
С.215—218
467
kB
-
Рыбалко О.Г., Загорский Д.Л., Бедин С.А. Зондовые методы в
исследовании композитного материала полимер – металлические
микропроволоки // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008.
- С.219—222
612
kB
-
Шипица Н.А., Жарин А.Л., Белый А.В., Сарока Д.И., Таран И.И.,
Кузнецова Т.А. Исследование структурных превращений
поверхностного слоя после высокоэнергетического воздействия методом
сканирующего зонда Кельвина // Методологические аспекты сканирующей зондовой
микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН
Беларуси, 2008. - С.223—227
684
kB
-
Шипица Н.А., Шевченок А.А., Урбанович В.С., Сарока Д.И. Исследование влияния
режимов обработки оксидной керамики на поверхностный потенциал образца // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник
докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.228—229
235
kB
-
Демидова А.Е. Создание комплекта эталонных мер для линейных
измерений в нанометровом диапазоне // Методологические аспекты сканирующей зондовой
микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник докладов. - Минск: ИТМО НАН
Беларуси, 2008. - С.230—231
112
kB
-
Котов Д.А. Изучение морфологии поверхности волокон диаметром
10–30 мкм, обработанных направленным потоком ионов // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VIII Международный семинар. Сборник
докладов. - Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2008. - С.232—235
515
kB
|