Финансовая и информационная
поддержка :::
Микротестмашины

1996–2008

12 лет
семинару
БелСЗМ

BelSZM VIII (logo) VIII Международный семинар
МЕТОДОЛОГИЧЕСКИЕ АСПЕКТЫ
СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ
МИКРОСКОПИИ
2008

Минск, Беларусь   •••   8–10 октября 2008 г.

 

ВСЕ СЕМИНАРЫ БелСЗМ

 

ДОКЛАДЫ

ФОТОАЛЬБОМ

ПРОГРАММА »»

ПРИГЛАШЕНИЕ

ОРГАНИЗАТОРЫ
ОРГ. КОМИТЕТ
ТЕМАТИКА
МЕСТО И ВРЕМЯ
РЕГЛАМЕНТ
ПУБЛИКАЦИЯ
ОПЛАТА
РАЗМЕЩЕНИЕ
ЗАЯВКА НА УЧАСТИЕ
АДРЕС

 

 ПРОГРАММА СЕМИНАРА

PDF В формате PDF
(131 kB)

 PDF-file 

 

PosterПлакат семинара
586x416 px,
79 kB, JPG

 

 ДЛЯ КОНТАКТОВ


Оргкомитет БелСЗМ-VIII

ГНУ "Институт тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова НАН Беларуси"
ул. П.Бровки 15,
220072 г. Минск, Беларусь
Тел.: +375 17 2841060
Факс: +375 17 2842212 (резервный +375 232 715463)

e-mail: byspm@mail.ru (резервный - microtm@mail.ru)

Internet: belszm.narod.ru

Телефоны для справок:

Чижик Сергей Антонович +375 17 2842137,
+375 29 6841060 (моб.)

Абетковская Светлана Олеговна -
+375 17 2841060,
+375 29 5578530 (моб.)

Суслов Андрей Анатольевич -
+375 232 715463,
+375 29 6774642 (моб.)
 

 

 
••• ПРОГРАММА  

 

8 октября 2008 г.
9:00 – 10:30 РЕГИСТРАЦИЯ
10:30 – 11:00 ОТКРЫТИЕ VIII Международного семинара “Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии–2008”
11:00 – 13:30 ПЛЕНАРНОЕ ЗАСЕДАНИЕ.
Председатель секции – член-корр. НАН Беларуси Ю. М. Плескачевский
11:00 – 11:30 Свириденок А.И., Чижик С.А. (г. Гродно, Беларусь, г. Минск, Беларусь)
СЗМ—"глаза и руки нанотехнологий"
11:30 – 12:00 Sukhanova T. E., Volkov A.Ya., Vylegzhanina M.E., Matveeva G.N., Kutin A.A., Gubanova G.N., Grigoriev A.I., Santurian J.G., Panarin E.F., and Goerigk G. (Saint-Petersburg, Russia; Hamburg, Germany)
AFM, X-Ray and Electron Microscopy study of silver nanoparticles stabilized by amphiphilic polymers
12:00 – 12:30 Миронов В.Л., Ермолаева О.Л., Фраерман А.А. (г. Нижний Новгород, Россия)
Влияние зонда магнитно-силового микроскопа на намагниченность исследуемых образцов
12:30 – 13:00 Бондаренко М.А., Бондаренко Ю.Ю., Канашевич Г.В., Яценко И.В. , Ващенко В.А., Конопальцева Л.И.  (г. Черкассы, Украина, г. Киев, Украина)
Исследование поверхностей пьезокерамических элементов, модифицированных электронным потоком методом атомно-силовой микроскопии
13:00 – 13:30 Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Основные направления развития СЗМ в Беларуси
13:30 – 14:50 Обед
14:50 – 16:50 СЕКЦИЯ 1А. СЗМ-исследования нанообъектов и тонких пленок.
Председатель секции – С.А. Чижик
14:50 – 15:10 Демидова А.Е. (г. Минск, Беларусь)
Создание комплекта эталонных мер для линейных измерений в нанометровом диапазоне
15:10 – 15:30 Суханова T.E., Вылегжанина М.Э., Шибинский Н.А., Волков A.Я., Валуева С.В., Хлебосолова Е.Н., Федосеенко С.И., Адамчук В.К., Ефимов И.П. (г. С.-Петербург, Россия)
АСМ-исследование наночастиц платины, стабилизированных различными полимерными матрицами, предотвращающими агрегацию
15:30 – 15:50 Gubanova G.N., Sukhanova T.E., Vylegzhanina M.E., Grigoriev A.I., Bershtein V.A. (St.-Petersburg, Russia)
Atomic force microscopy and structural investigations of R-Bapb-Type Polyimide films modified by carbon nanofibers
15:50 – 16:10 Жавнерко Г.К., Агабеков В.Е., Марчик Н.А. (г. Минск, Беларусь)
Пленки Ленгмюра-Блоджетт амфифильных полимеров
16:10 – 16:30 Шадрина В.И., Башмаков И.А., Жавнерко Г.К., Агабеков В.Е, Капуцкий Ф.Н. (г. Минск, Беларусь)
Исследование морфологии микроструктурированных сетчатых пленок с помощью сканирующей зондовой микроскопии
16:30 – 16:50 Лисовская Г.Б., Жавнерко Г.К., Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Диагностика прекурсоров желатиновых капсул с помощью АСМ и СЭМ
 17:30 Экскурсионная программа: автобусный тур “Минск – столица Беларуси”
   
9 октября 2008 г.
9:00 – 10:20 СЕКЦИЯ 1Б. Структура и локальные физико-механические свойства материалов.
Председатель секции – В.Л. Миронов
9:00 – 9:20 Игнатовский М.И., Кравцевич А.В. (г. Гродно, Беларусь)
Применение сканирующей зондовой микроскопии в исследованиях поверх-ности полимерных композитов: пленки на основе микро- и наномодифициро-ванного поливинилового спирта
9:20 – 9:40 Барайшук С.М., Ташлыков И.С., Туровец А.И. (г. Минск, Беларусь)
Применение асм при изучении морфологии поверхности графита, подвергнутого ионно-лучевой обработке
9:40 – 10:00 Котов Д.А. (г. Минск, Беларусь)
Изучение морфологии поверхности волокон диаметром 10–30 мкм, обрабо-танных направленным потоком ионов
10:00 – 10:20 Баран Л.В. (г. Минск, Беларусь)
исследование локальных электрических свойств пленок титан-фуллерит методом электросиловой микроскопии
10:20 – 10:40 Кузнецова Т.А., Нгуен Хоанг Иен, Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Исследование зависимости структуры молекулярно тонких пленок полимера поливинилпиридина от температуры
10:40 – 11:00 Рыбалко О.Г., Загорский Д.Л., Бедин С.А. (г. Москва, Россия)
Зондовые методы в исследовании композитного материала полимер – металлические микропроволоки
11:00 – 11:30 Перерыв
11:30 – 13:30 СЕКЦИЯ 1В. Применение методов СЗМ в биологических исследованиях.
Председатель секции – Т.Г. Кузнецова
11:30 – 11:50 Кухаренко Л.В., Крылов А.Б., Лещенко В.Г., Ильич Г.К. (г. Минск, Беларусь)
Обучение студентов с использованием глобальной сети интернет по теме "Зондовая микроскопия в медико-биологических исследованиях"
11:50 – 12:10 Кухаренко Л.В., Фукс Х., Циркунова Н.Г., Кухаренко А.А., Бараймуков В.Ю., Лещенко В.Г. (г. Минск, Беларусь, г.Мюнстер, Германия, г. Санкт-Петербург, Россия)
Атомно-силовая микроскопия в исследовании морфологии поверхности клеток при апоптозе
12:10 – 12:30 Стародубцева М.Н., Егоренков Н. И. (г. Гомель, Беларусь)
Микроскопия латеральных сил клеточных структур
12:30 – 12:50 Никитина И.А., Стародубцева М.Н., Грицук А.И. (г. Гомель, Беларусь)
Использование атомно-силовой микроскопии для изучения тимоцитов крыс
12:50 – 13:10 Дрозд Е.С., Чижик С.А., Квитко О.В., Конева И.И., Шейко Я.И. (г. Минск, Беларусь)
Исследование опухолевых клеток методом атомно-силовой микроскопии
13:10 – 14:30 Обед
14:30 – 18:10 СЕКЦИЯ 2. Развитие аппаратных и программных средств СЗМ. Новые методики СЗМ.
Председатель секции – Г.К. Жавнерко
14:30 – 14:50 Ясинский В.М., Чикунов В.В. (г. Минск, Беларусь)
Сканирующий ближнеполевой оптический микроскоп
14:50 – 15:10 Бауков В.В., Жижимонтов В.В., Беляев А.В.  (г. Зеленоград, Россия)
Низкошумящий датчик отклонения кантилевера для атомно-силового микроскопа
15:10 – 15:30 Грищенко Ю.В., Занавескин М.Л., Калачикова Е.С., Толстихина А.Л. (г. Москва, Россия)
Определение параметров регулярных поверхностных наноструктур по данным атомно-силовой микроскопии с помощью функции спектральной плотности мощности
15:30 – 15:50 Vo Thanh Tung, Chizhik S.A., Chikunov V.V., Siroezkin S. V., Tran Xuan Hoai, Nguyen Thi Hong (Minsk, Belarus, Vietnam)
Introduction to a quartz tuning fork combined with scanning probe microscope
15:50 – 16:10 Vo Thanh Tung (Minsk, Belarus)
Development of a tuning fork based atomic force microscopy (fork-afm) for imaging on erythrocytes
16:10 – 16:30 Нгуен Тхи Хонг, Во Тхань Тунг, Чижик С. А. (г. Минск, Беларусь)
Роль добротности камертоного датчика в атомно-силовой микроскопии
16:30 – 16:50 Перерыв
16:50 – 18:10 СЕКЦИЯ 3. Моделирование микро- и наномасштабных процессов с использованием СЗМ-данных.
Председатель секции – Т.Е. Суханова
16:50 – 17:10 Айзикович С.М., Кренев Л.И., Кузнецова Т.А., Чижик С.А. (г. Ростов-на-Дону, Россия; г. Минск, Беларусь)
Внедрение сферического штампа в функционально-градиентный слой с изменяющимися модулем Юнга и коэффициентом Пуассона
17:10 – 17:30 Баркалин В.В., Чашинский А.С., Жучек П.А., Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Молекулярно-динамическая модель зонда на основе углеродной нанотрубки
17:30 – 17:50 Абетковская С.О. (г. Минск, Беларусь)
Оценка предельных возможностей неразрушающей нанотомографии на базе динамического режима АСМ
17:50 – 18:10 Погоцкая И.В., Абетковская С.О., Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Влияние физико-механических свойств “мягких” материалов на характеристи-ки колебаний зонда в динамической атомно-силовой микроскопии
   
10 октября 2008 г.
10:00 – 12:00 СЕКЦИЯ 4. Смежные вопросы микро-, наномеханики и микро-, нанотрибологии.
Председатель секции – А.А. Суслов
10:00 – 10:20 Белозерцева В.И., Хляп Г.М., Дьяконенко Н.Л., Мамалуй А.А., Гаман Д.А. (г. Харьков, Украина, Kaiserslautern, Germany)
Особенности структуры и свойств тонких пленок NaBiTe2
10:20 – 10:40 Кузнецова Т.А., Маркова Л.В., Андреев М.А. (г. Минск, Беларусь)
Исследование структуры многослойных вакуумных покрытий методом атомно-силовой микроскопии
10:40 – 11:00 Джилавдари И.З., Ризноокая Н.Н. (г. Минск, Беларусь)
Измерение гистерезисных потерь и работы адгезии на отрыв на участках субмикронной длины
11:00 – 11:20 Zhytkova M.A., Rymuza Z., Chizhik S.A., Ocypa L. (Minsk, Belarus; Warsaw, Poland)
Possible causes of Young modulus spring near-surface of the thin polymer films
11:20 – 11:40 Шипица Н.А., Жарин А.Л., Белый А.В., Сарока Д.И., Таран И.И., Кузнецова Т.А. (г. Минск, Беларусь)
Исследование структурных превращений поверхностного слоя после высокоэнергетического воздействия методом сканирующего зонда Кельвина
11:40 – 12:00 Шипица Н.А., Шевченок А.А., Урбанович В.С., Сарока Д.И. (г. Минск, Беларусь)
Исследование влияния режимов обработки оксидной керамики на поверхностный потенциал образца
12:00 – 12:20 Перерыв
12:20 – 13:30 СТЕНДОВЫЕ ДОКЛАДЫ
СТ 1
Короткое сообщение 12:20 – 12:25
Гайнутдинов Р.В., Волк Т.Р., Толстихина А.Л., Ивлева Л.И., Лысова О.А., Разгонов И.И. (г. Москва, Россия, г. Черноголовка, Россия)
исследование процессов переключения в сегнетоэлектрических кристаллах ниобата бария–стронция методом атомно-силовой микроскопии
СТ 2
Короткое сообщение 12:25 – 12:30
Ковалева С.А., Пилипенко В.А., Сякерский В.С., Петлицкая Т.В., Витязь П.А., Буйко Л.Д. (г. Минск, Беларусь)
Морфология и структура локальных анодных пленок оксида кремния, полученных зондовым окислением с использованием атомно-силового микроскопа
СТ 3
Короткое сообщение 12:30 – 12:35
Кузнецова Т.А., Худолей А.Л., Акулич В.В (г. Минск, Беларусь)
Наноструктурирование алмазоподобных пленок
СТ 4
Короткое сообщение 12:35 – 12:40
Худолей А.Л., Кузнецова Т.А., Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Выявление сплошности соединения и межфазных границ наплавленных покрытий из медных сплавов
СТ 5 Шарапов В.М., Филимонов С.А. (г. Черкассы, Украина)
Сканер для зондовых наномикроскопов на основе биморфных пьезоэлементов
СТ 6 Скоркина М.Ю., Сладкова Е.А. (г. Белгород, Россия)
Исследование морфометрических параметров эритроцитов лягушек методом сканирующей зондовой микроскопии
13:30 – 14:40 Обед
14:40 – 15:40 КРУГЛЫЙ СТОЛ. ЗАКРЫТИЕ СЕМИНАРА.

 

ОРГКОМИТЕТ БелСЗМ-VIII
Last update October 3,2008

 

Hosted by uCoz