ПЕРВЫЙ
БЕЛОРУССКИЙ СЕМИНАР
ПО СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ

25-26 апреля 1996 г. • г. Гомель

•••  ВСЕ СЕМИНАРЫ БелСЗМ >>  | 1996 | 1997 | 1998 | 2000 | 2002 | 2004 | 2006

ОРГАНИЗАТОРЫ  
  • Институт механики металлополимерных систем им. В.А.Белого АНБ
  • Институт физики твердого тела и полупроводников АНБ
  • Белорусский государственный университет
  • Отдел проблем ресурсосбережения АНБ

 

 

ОРГКОМИТЕТ  
  Плескачевский Ю.М. Председатель ИММС АНБ,
член-корр. АНБ, д.т.н.
  Свириденок А.И. Cопредседатель ОПР АНБ,
академик АНБ, д.т.н.
  Олехнович Н.М. Cопредседатель ИФТТ и П АНБ,
член-корр. АНБ, д.ф.-м.н.
  Чижик С.А. Ученый секретарь ИММС АНБ, к.т.н.
  Гурин В.С. НИИ ФХП БГУ, к.х.н.
  Свекло И.Ф. ОПР АНБ, к.ф.-м.н.
  Солонович В.К. ИФТТ и П АНБ, к.ф.-м.н.

 

МЕСТО ПРОВЕДЕНИЯ

 

Актовый зал Института механики металлополимерных систем им. В. А. Белого АНБ

г. Гомель, ул. Кирова 32а

Начало заседаний в 10:00

 


ПРОГРАММА СЕМИНАРА

 

 

 

 

 

 

 

Библиография

ПЕРВЫЙ БЕЛОРУССКИЙ СЕМИНАР ПО СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ. Тез. докладов. (25–26 апреля 1996 г., г.Гомель) – Гомель: ИнфоТрибо, 1996. – 32 с.

Скачать сборник тезисов докладов
Сборник тезисов в PDF-формате (995 kB)

 

 

 

25 апреля

Вступительное слово
– директор ИММС АНБ, член- корр. АНБ, д.т.н. Плескачевский Ю.М.

Перспективы развития и использования СЗМ-технологий в науке и промышленности Беларуси
– директор ОПР АНБ, академик АНБ, д.т.н. Свириденок А.И.

  1. Солонович В.К. (Пленарный доклад)
    Ближайшие задачи и перспективные направления развития нанотехнологии, наноэлектроники и формирования наноструктур на базе СТМ и АСМ (стр.6)
  2. Гоголинский К.В., Плитенко В.Н., Решетов В.Н. (Пленарный доклад)
    Использование системы NanoScan для контроля топологии и физико-механических свойств поверхностей различных материалов (стр.7)
  3. Чижик С.А. (Пленарный доклад)
    Большепольная атомно-силовая микроскопия и ее приложения к задачам прецизионной механики и материаловедения (стр.8)
  4. Кухаренко Л.В., Солонович В.К., Корбут Н.А., Стукалов О.М., Григорьев К.П., Солдатов В.С., Агабеков В.Е., Жавнерко Г.К., Кучук Т.Н.
    О механизмах формирования СТМ и АСМ изображений молекулярной структуры пленок типа Ленгмюра-Блоджетт (стр.9)
  5. Русецкий М.С., Вариченко В.С., Зайцев А.М., Стельмах В.Ф., Фриз Т.
    АСМ исследования поверхности алмаза, облученного ионами высоких энергий (стр.10)
  6. Солонович В.К., Кухаренко Л.В., Корбут Н.А., Стукалов О.М., Прохоревич М.М., Григорьев К.П.
    Некоторые закономерности изображений пиролитического графита, снятых в СТМ на воздухе и в глубоком вакууме (стр.11)
  7. Шадров В.Г., Болтушкин А.В., Чижик С.А., Точицкий Т.А.
    Исследование морфологии поверхности магнитожестких пленок на основе Со (стр.12)
  8. Дубравин А.М., Матюхина Т.Г., Чижик С.А.
    Использование АСМ в стереологии форменных эле- ментов крови (стр.13)
  9. Дубравин А.М.
    Электронная схема цифрового управления зондом для расширения возможностей АСМ (стр.14)
  10. Пехота В.В.
    Пьезоэлектрическое инерционное устройство вертикального перемещения (стр.15)
  11. Юхневич А.В., Новик А.Ф., Демеш И.Ю.
    Кремниевые монокристаллические зонды для СТМ и АСМ (стр.16)
  12. Гайдук Н.Б., Горбунов В.В.
    Банк СТМ/АСМ- изображений «НАНОТОП-ИНФО» и управление им (стр.17)
  13. Ковалев А.В., Чижик С.А.
    Математическая интерпретация колебательной системы образец -зонд в жестком контактном режиме АСМ (стр.18)
  14. Ковалев В.А., Бондарь Я.С.
    Методика ориентационного анализа трехмерных текстурных изображений (стр.19)
  15. Григорьев А.Я.
    Сравнение параметрических описаний изображений (стр.20)

26 апреля

  1. Гурин В.С. (Пленарный доклад)
    Использование СТМ для управляемого формирования наноструктур на поверхности: обзор экспериментальных данных и теоретических представлений (стр.21)
  2. Новиков Н.В., Грушко В.И., Андросов И.М., Валуйский В.Ю., Дробязко В.В. (Пленарный доклад)
    Проблема достоверности экспериментов по исследованию поверхности тонких проводящих покрытий методом сканирующей туннельной микроскопии (стр.22)
  3. Кабаев М.М., Липин Ю.В., Свекло И.Ф., Свириденок А.И. (Пленарный доклад)
    Изменение структуры поверхности полиимидной пленки в результате низкотемпературной плазменной обработки (стр.23)
  4. Горбунов В.В.
    Методы и методики исследования сверхгладких шероховатых поверхностей трения (стр.24)
  5. Суслов А.А.
    Перспективы использования СЗМ в исследованиях смазывавшихся поверхностей трения (стр.25)
  6. Сенькова Е.Л.
    Микроизменения топографии поверхности стали при эксплуатации в узлах трения (стр.26)
  7. Овчинников Е.В., Струк В.А.
    Исследование морфологии поверхностей тонких фторсодержащих пленок методам АСМ (стр.27)
  8. Сенько А.Ф., Тройчанская П.Е., Бойко Ю.С., Губанов В.А., Герман А.Е., Овчинников Е.В.
    Морфология пленок фторсодержащих олигомеров при предварительном энергетическом воздействии (стр.28)
  9. Чижик С.А., Короткевич С.В.
    Интерпретация механизмов трения сверхгладких поверхностей на основании АСМ-данных (стр.29)
  10. Гольдаде А.В., Короткевич С.В.
    Исследование ростовых структур алмазоподобных пленок углерода и их влияния на коэффициент трения (стр.30)

Подведение итогов работы семинара

Design & support: MICROTESTMACHINES, 2006

Hosted by uCoz