•
ВСЕ СЕМИНАРЫ БелСЗМ
•
ДОКЛАДЫ
•
ФОТОАЛЬБОМ
•
ПРОГРАММА »»
•
ПРИГЛАШЕНИЕ
•
ОРГАНИЗАТОРЫ
• ОРГ. КОМИТЕТ
• ТЕМАТИКА
• МЕСТО И ВРЕМЯ
• РЕГЛАМЕНТ
• ПУБЛИКАЦИЯ
• ОПЛАТА
• РАЗМЕЩЕНИЕ
• ЗАЯВКА НА УЧАСТИЕ
• АДРЕС
 Плакат
семинара
586x416 px,
79 kB, JPG
| ДЛЯ
КОНТАКТОВ |
|
Оргкомитет БелСЗМ-VIII
ГНУ "Институт тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова НАН Беларуси"
ул. П.Бровки 15,
220072 г. Минск, Беларусь
Тел.: +375 17 2841060
Факс: +375 17 2842212 (резервный +375 232 715463)
e-mail: byspm@mail.ru
(резервный - microtm@mail.ru)
Internet: belszm.narod.ru
Телефоны для справок:
Чижик Сергей Антонович +375 17 2842137,
+375 29 6841060 (моб.)
Абетковская Светлана Олеговна -
+375 17 2841060,
+375 29 5578530 (моб.)
Суслов Андрей Анатольевич -
+375 232 715463,
+375 29 6774642 (моб.)
|
|
|
 |
|
|
|
| |
|
| ••• ПРОГРАММА |
|
| 8 октября 2008 г. |
| 9:00 – 10:30 |
РЕГИСТРАЦИЯ |
| 10:30 – 11:00 |
ОТКРЫТИЕ VIII Международного семинара “Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии–2008” |
| 11:00 – 13:30 |
ПЛЕНАРНОЕ ЗАСЕДАНИЕ.
Председатель секции – член-корр. НАН
Беларуси Ю. М. Плескачевский |
| 11:00 – 11:30 |
Свириденок А.И., Чижик С.А. (г. Гродно, Беларусь, г.
Минск, Беларусь)
СЗМ—"глаза и руки нанотехнологий" |
| 11:30 – 12:00 |
Sukhanova T. E., Volkov A.Ya., Vylegzhanina M.E., Matveeva
G.N., Kutin A.A., Gubanova G.N., Grigoriev A.I., Santurian J.G., Panarin E.F.,
and Goerigk G. (Saint-Petersburg, Russia; Hamburg, Germany)
AFM, X-Ray and Electron Microscopy study of silver nanoparticles stabilized
by amphiphilic polymers |
| 12:00 – 12:30 |
Миронов В.Л., Ермолаева О.Л., Фраерман А.А. (г. Нижний
Новгород, Россия)
Влияние зонда магнитно-силового микроскопа на намагниченность исследуемых
образцов |
| 12:30 – 13:00 |
Бондаренко М.А., Бондаренко Ю.Ю., Канашевич Г.В., Яценко
И.В. , Ващенко В.А., Конопальцева Л.И. (г. Черкассы, Украина, г.
Киев, Украина)
Исследование поверхностей пьезокерамических элементов, модифицированных электронным
потоком методом атомно-силовой микроскопии |
| 13:00 – 13:30 |
Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Основные направления развития СЗМ в Беларуси |
| 13:30 – 14:50 |
Обед |
| 14:50 – 16:50 |
СЕКЦИЯ 1А. СЗМ-исследования нанообъектов и тонких пленок.
Председатель секции – С.А. Чижик |
| 14:50 – 15:10 |
Демидова А.Е. (г. Минск, Беларусь)
Создание комплекта эталонных мер для линейных измерений в нанометровом диапазоне |
| 15:10 – 15:30 |
Суханова T.E., Вылегжанина М.Э., Шибинский Н.А., Волков
A.Я., Валуева С.В., Хлебосолова Е.Н., Федосеенко С.И., Адамчук В.К., Ефимов И.П.
(г. С.-Петербург, Россия)
АСМ-исследование наночастиц платины, стабилизированных различными полимерными
матрицами, предотвращающими агрегацию |
| 15:30 – 15:50 |
Gubanova G.N., Sukhanova T.E., Vylegzhanina M.E., Grigoriev
A.I., Bershtein V.A. (St.-Petersburg, Russia)
Atomic force microscopy and structural investigations of R-Bapb-Type Polyimide
films modified by carbon nanofibers |
| 15:50 – 16:10 |
Жавнерко Г.К., Агабеков В.Е., Марчик Н.А. (г. Минск,
Беларусь)
Пленки Ленгмюра-Блоджетт амфифильных полимеров |
| 16:10 – 16:30 |
Шадрина В.И., Башмаков И.А., Жавнерко Г.К., Агабеков
В.Е, Капуцкий Ф.Н. (г. Минск, Беларусь)
Исследование морфологии микроструктурированных сетчатых пленок с помощью
сканирующей зондовой микроскопии |
| 16:30 – 16:50 |
Лисовская Г.Б., Жавнерко Г.К., Чижик С.А. (г. Минск,
Беларусь)
Диагностика прекурсоров желатиновых капсул с помощью АСМ и СЭМ |
| 17:30 |
Экскурсионная программа: автобусный тур “Минск
– столица Беларуси” |
| |
|
| 9 октября 2008 г. |
| 9:00 – 10:20 |
СЕКЦИЯ 1Б. Структура и локальные физико-механические свойства
материалов.
Председатель секции – В.Л. Миронов |
| 9:00 – 9:20 |
Игнатовский М.И., Кравцевич А.В. (г. Гродно, Беларусь)
Применение сканирующей зондовой микроскопии в исследованиях поверх-ности
полимерных композитов: пленки на основе микро- и наномодифициро-ванного поливинилового
спирта |
| 9:20 – 9:40 |
Барайшук С.М., Ташлыков И.С., Туровец А.И. (г. Минск,
Беларусь)
Применение асм при изучении морфологии поверхности графита, подвергнутого
ионно-лучевой обработке |
| 9:40 – 10:00 |
Котов Д.А. (г. Минск, Беларусь)
Изучение морфологии поверхности волокон диаметром 10–30 мкм, обрабо-танных
направленным потоком ионов |
| 10:00 – 10:20 |
Баран Л.В. (г. Минск, Беларусь)
исследование локальных электрических свойств пленок титан-фуллерит методом
электросиловой микроскопии |
| 10:20 – 10:40 |
Кузнецова Т.А., Нгуен Хоанг Иен, Чижик С.А. (г. Минск,
Беларусь)
Исследование зависимости структуры молекулярно тонких пленок полимера поливинилпиридина
от температуры |
| 10:40 – 11:00 |
Рыбалко О.Г., Загорский Д.Л., Бедин С.А. (г. Москва,
Россия)
Зондовые методы в исследовании композитного материала полимер – металлические
микропроволоки |
| 11:00 – 11:30 |
Перерыв |
| 11:30 – 13:30 |
СЕКЦИЯ 1В. Применение методов СЗМ в биологических исследованиях.
Председатель секции – Т.Г. Кузнецова |
| 11:30 – 11:50 |
Кухаренко Л.В., Крылов А.Б., Лещенко В.Г., Ильич Г.К.
(г. Минск, Беларусь)
Обучение студентов с использованием глобальной сети интернет по теме "Зондовая
микроскопия в медико-биологических исследованиях" |
| 11:50 – 12:10 |
Кухаренко Л.В., Фукс Х., Циркунова Н.Г.,
Кухаренко А.А., Бараймуков В.Ю., Лещенко В.Г. (г. Минск, Беларусь, г.Мюнстер,
Германия, г. Санкт-Петербург, Россия)
Атомно-силовая микроскопия в исследовании морфологии поверхности клеток при
апоптозе |
| 12:10 – 12:30 |
Стародубцева М.Н., Егоренков Н. И. (г. Гомель, Беларусь)
Микроскопия латеральных сил клеточных структур |
| 12:30 – 12:50 |
Никитина И.А., Стародубцева М.Н., Грицук А.И. (г. Гомель,
Беларусь)
Использование атомно-силовой микроскопии для изучения тимоцитов крыс |
| 12:50 – 13:10 |
Дрозд Е.С., Чижик С.А., Квитко О.В., Конева И.И., Шейко
Я.И. (г. Минск, Беларусь)
Исследование опухолевых клеток методом атомно-силовой микроскопии |
| 13:10 – 14:30 |
Обед |
| 14:30 – 18:10 |
СЕКЦИЯ 2. Развитие аппаратных и программных средств СЗМ.
Новые методики СЗМ.
Председатель секции – Г.К. Жавнерко |
| 14:30 – 14:50 |
Ясинский В.М., Чикунов В.В. (г. Минск, Беларусь)
Сканирующий ближнеполевой оптический микроскоп |
| 14:50 – 15:10 |
Бауков В.В., Жижимонтов В.В., Беляев А.В. (г.
Зеленоград, Россия)
Низкошумящий датчик отклонения кантилевера для атомно-силового микроскопа |
| 15:10 – 15:30 |
Грищенко Ю.В., Занавескин М.Л., Калачикова Е.С., Толстихина
А.Л. (г. Москва, Россия)
Определение параметров регулярных поверхностных наноструктур по данным атомно-силовой
микроскопии с помощью функции спектральной плотности мощности |
| 15:30 – 15:50 |
Vo Thanh Tung, Chizhik S.A., Chikunov V.V., Siroezkin
S. V., Tran Xuan Hoai, Nguyen Thi Hong (Minsk, Belarus, Vietnam)
Introduction to a quartz tuning fork combined with scanning probe microscope |
| 15:50 – 16:10 |
Vo Thanh Tung (Minsk, Belarus)
Development of a tuning fork based atomic force microscopy (fork-afm) for
imaging on erythrocytes |
| 16:10 – 16:30 |
Нгуен Тхи Хонг, Во Тхань Тунг, Чижик С. А. (г. Минск,
Беларусь)
Роль добротности камертоного датчика в атомно-силовой микроскопии |
| 16:30 – 16:50 |
Перерыв |
| 16:50 – 18:10 |
СЕКЦИЯ 3. Моделирование микро- и наномасштабных процессов
с использованием
СЗМ-данных.
Председатель секции – Т.Е. Суханова |
| 16:50 – 17:10 |
Айзикович С.М., Кренев Л.И., Кузнецова Т.А., Чижик С.А.
(г. Ростов-на-Дону, Россия; г. Минск, Беларусь)
Внедрение сферического штампа в функционально-градиентный слой с изменяющимися
модулем Юнга и коэффициентом Пуассона |
| 17:10 – 17:30 |
Баркалин В.В., Чашинский А.С., Жучек П.А., Чижик С.А.
(г. Минск, Беларусь)
Молекулярно-динамическая модель зонда на основе углеродной нанотрубки |
| 17:30 – 17:50 |
Абетковская С.О. (г. Минск, Беларусь)
Оценка предельных возможностей неразрушающей нанотомографии на базе динамического
режима АСМ |
| 17:50 – 18:10 |
Погоцкая И.В., Абетковская С.О., Чижик С.А. (г. Минск,
Беларусь)
Влияние физико-механических свойств “мягких” материалов на характеристи-ки
колебаний зонда в динамической атомно-силовой микроскопии |
| |
|
| 10 октября 2008 г. |
| 10:00 – 12:00 |
СЕКЦИЯ 4. Смежные вопросы микро-, наномеханики и микро-,
нанотрибологии.
Председатель секции – А.А. Суслов |
| 10:00 – 10:20 |
Белозерцева В.И., Хляп Г.М., Дьяконенко Н.Л., Мамалуй
А.А., Гаман Д.А. (г. Харьков, Украина, Kaiserslautern, Germany)
Особенности структуры и свойств тонких пленок NaBiTe2 |
| 10:20 – 10:40 |
Кузнецова Т.А., Маркова Л.В., Андреев М.А. (г. Минск,
Беларусь)
Исследование структуры многослойных вакуумных покрытий методом атомно-силовой
микроскопии |
| 10:40 – 11:00 |
Джилавдари И.З., Ризноокая Н.Н. (г. Минск, Беларусь)
Измерение гистерезисных потерь и работы адгезии на отрыв на участках субмикронной
длины |
| 11:00 – 11:20 |
Zhytkova M.A., Rymuza Z., Chizhik S.A., Ocypa L. (Minsk,
Belarus; Warsaw, Poland)
Possible causes of Young modulus spring near-surface of the thin polymer
films |
| 11:20 – 11:40 |
Шипица Н.А., Жарин А.Л., Белый А.В., Сарока Д.И., Таран
И.И., Кузнецова Т.А. (г. Минск, Беларусь)
Исследование структурных превращений поверхностного слоя после высокоэнергетического
воздействия методом сканирующего зонда Кельвина |
| 11:40 – 12:00 |
Шипица Н.А., Шевченок А.А., Урбанович В.С., Сарока Д.И.
(г. Минск, Беларусь)
Исследование влияния режимов обработки оксидной керамики на поверхностный
потенциал образца |
| 12:00 – 12:20 |
Перерыв |
| 12:20 – 13:30 |
СТЕНДОВЫЕ ДОКЛАДЫ |
СТ 1
Короткое сообщение 12:20 – 12:25 |
Гайнутдинов Р.В., Волк Т.Р., Толстихина А.Л., Ивлева
Л.И., Лысова О.А., Разгонов И.И. (г. Москва, Россия, г. Черноголовка, Россия)
исследование процессов переключения в сегнетоэлектрических кристаллах ниобата
бария–стронция методом атомно-силовой микроскопии |
СТ 2
Короткое сообщение 12:25 – 12:30 |
Ковалева С.А., Пилипенко В.А., Сякерский В.С., Петлицкая
Т.В., Витязь П.А., Буйко Л.Д. (г. Минск, Беларусь)
Морфология и структура локальных анодных пленок оксида кремния, полученных
зондовым окислением с использованием атомно-силового микроскопа |
СТ 3
Короткое сообщение 12:30 – 12:35 |
Кузнецова Т.А., Худолей А.Л., Акулич В.В (г. Минск,
Беларусь)
Наноструктурирование алмазоподобных пленок |
СТ 4
Короткое сообщение 12:35 – 12:40 |
Худолей А.Л., Кузнецова Т.А., Чижик С.А. (г. Минск, Беларусь)
Выявление сплошности соединения и межфазных границ наплавленных покрытий
из медных сплавов |
| СТ 5 |
Шарапов В.М., Филимонов С.А. (г. Черкассы, Украина)
Сканер для зондовых наномикроскопов на основе биморфных пьезоэлементов |
| СТ 6 |
Скоркина М.Ю., Сладкова Е.А. (г. Белгород, Россия)
Исследование морфометрических параметров эритроцитов лягушек методом сканирующей
зондовой микроскопии |
| 13:30 – 14:40 |
Обед |
| 14:40 – 15:40 |
КРУГЛЫЙ СТОЛ. ЗАКРЫТИЕ СЕМИНАРА. |
|
В
формате PDF
Плакат
семинара