|
13 ноября 2012 г. |
|
9.00–10.30 |
РЕГИСТРАЦИЯ |
|
10.30 |
ОТКРЫТИЕ X Международной конференции “Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии–2012” |
|
10.30–17.10 |
ПЛЕНАРНОЕ ЗАСЕДАНИЕ.
Председатель заседания: С.А. Чижик |
|
10.30–11.10 |
Свириденок А.И. |
г. Гродно, Беларусь |
Ресурсы нанотехнологического развития Беларуси |
|
11.10–11.50 |
Бухараев А.А., Бизяев Д.А., Нургазизов Н.И., Ханипов Т.Ф. |
г. Казань, Россия |
Получение и исследование планарных магнитных наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии |
|
11.50–12.30 |
Чижик С.А. |
г. Минск, Беларусь |
Основные тенденции развития сканирующей зондовой микроскопии в Беларуси |
|
12.30–13.30 |
Перерыв на обед |
|
13.30–14.10 |
Миронов В. Л., Ермолаева О. Л. |
г. Н.Новгород, Россия |
Магнитно-силовая микроскопия доменных стенок в ферромагнитных нанопроволоках |
|
14.10–14.50 |
Суханова Т.Е., Вылегжанина М.Э., Валуева С.В., Соколова М.П., Кутин А.А., Волков А.Я., Боровикова Л.Н., Гельфонд М.Л. |
г. С.-Петербург, Россия |
Атомно-силовая микроскопия наноструктур для фотодинамической терапии |
|
14.50–15.30 |
Vo Thanh Tung, Nguyen Trong Tinh, Nguyen Hoang Yen, Ton That Dung |
Hue city, Vietnam |
Measuring the ferroelectric hystersis using RT66A system and a sawyer-tower circuit |
|
15.30–15.50 |
Кофе-брейк |
|
15.50–16.30 |
Гайнутдинов Р.В., Лысова O.A., Толстихина A.Л., Юдин С.Г., Фридкин В.М., Ducharme S. |
г. Москва, Россия,
г. Линкольн, США |
Атомно-силовая микроскопия селенсодержащих наноструктур на основе водорастворимых полимеров |
|
16.30–17.10 |
Ясинский В.М., Рыжевич А.А., Смирнов А.Г., Шулицкий Б.Г. |
г. Минск, Беларусь |
Оптоволоконный зонд для ближнеполевой оптической нанолитографии |
| |
|
|
|
|
14 ноября 2012 г. |
|
9.15–15.00 |
СЕКЦИЯ 1. Применение методов СЗМ в физических и химических исследованиях. Смежные вопросы физики и химии наноструктур, микро-, наномеханики, микро-, нанотрибологии.
Председатели секции: А.А. Бухараев, Т.Е. Суханова, В.Л. Миронов |
|
9.15–9.30 |
Бондаренко М.А., Яценко И.В., Петлеванный П.В., Коваленко Ю.И., Ващенко В.А. |
г. Черкассы, Украина |
Применение метода атомно-силовой микроскопии в изучении доменно-диссипативных структур, сформированных в пьезокерамике электронно-лучевым методом |
|
9.30–9.45 |
Ахмадишина К.Ф., Бобринецкий И.И., Комаров И.А., Ромашкин А.В. |
г. Москва, Россия |
Исследование проводящих покрытий на основе углеродных нанотрубок для создания прозрачных гибких электронных устройств методами сканирующей зондовой микроскопии и комбинационного рассеяния света |
|
9.45–10.00 |
Стецюра С.В., Маляр И.В. |
г. Саратов, Россия |
Применение метода зонда Кельвина для исследования влияния полиэлектролитного покрытия и освещения на поверхностный потенциал кремния |
|
10.00–10.15 |
Курбаткин И.И., Муравьёва Т.И., Мезрин А.М., Фролов Н.Н. |
г. Москва, Россия |
Исследование структурных и трибологических параметров стекловолокнистых пленок |
|
10.15–10.30 |
Комаров И.А., Лаврентьев К.К., Левин Д.Д., Неволин В.К. |
г. Москва, Россия |
Получение мультиграфеновых пакетов и методика группового определения их толщины с помощью зондовой микроскопии |
|
10.30 - 10.45 |
Прохоров В.В. |
г. Москва, Россия |
Изучение ламеллярных наноструктур олигопептидов и цианиновых красителей на поверхности пиролитического графита методом атомно-силовой микроскопии высокого разрешения |
|
10.45–11.00 |
Кофе-брейк |
|
11.00–11.15 |
Губанова Г.Н., Тимпу Д., Корыткова Э.Н., Вылегжанина М.Э., Суханова Т.Е., Волков А.Я., Масленникова Т.П., Кононова С.В. |
г. Санкт-Петербург, Россия
г. Яссы, Румыния |
Морфология и структура нанокомпозитов с ленточно-цепочечными Na-Mg-силикатами и гидросиликатами Mg трубчатого строения |
|
11.15–11.30 |
Антонюк В.С., Свиридова О.В., Бондаренко М.А. |
г. Киев, г. Одесса, г. Черкассы, Украина |
Исследование структуры рабочей поверхности слаботочных контактов токосъемников гироскопических приборов в процессе их эксплуатации методом атомно-силовой микроскопии |
|
11.30–11.45 |
Курилёнок Н.А., Парибок И.В. |
г. Минск, Беларусь |
АСМ-исследование адгезионных свойств пленочных мембран до и после фильтрации раствора казеина |
|
11.45–12.00 |
Барайшук С.М., Ташлыкова-Бушкевич И.И., Яковенко Ю.С. |
г. Минск, Беларусь |
Морфология поверхности быстрозатвердевших фольг алюминия и его бинарных сплавов |
|
12.00–12.15 |
Бугров А.Н., Вылегжанина М.Э., Суханова Т.Е., Альмяшева О.В., Светличный В.М. |
г. Санкт-Петербург, Россия |
Атомно-силовая микроскопия полимерных нанокомпозитов на основе полиимида ПМ и наночастиц диоксида циркония |
|
12.15–12.30 |
Туровец А.И., Ташлыков И.С. |
г. Минск, Беларусь |
Морфология и смачиваемость поверхности системы Mo/стеклянная подложка, формируемой методом SIAD |
|
12.30–13.30 |
Перерыв на обед |
|
13.30–13.45 |
Бондаренко Ю.Ю., Бондаренко М.А., Маслянык С.В. |
г. Черкассы, Украина |
Методологические аспекты проведения нанометрических исследований в дистанционной системе образования |
|
13.45–14.00 |
Краснобородько С.Ю., Шевяков В.И. |
г. Москва, Россия |
Методологические аспекты сканирующей электропроводящей и магнитной силовой микроскопии |
|
14.00–14.15 |
Боргеков Д.Б., Жумажанова А.Т., Сайфулин М.М., Антонов А.Ю., Горин Е.Г., Машенцева А.А., Здоровец М.В. |
г. Астана, Казахстан |
Сравнительный анализ методов атомно-силовой и растровой электронной микроскопии для исследования радиационно-модифицированного полиэтилентерефталата |
|
14.15–14.30 |
Дементьев П.А., Дунаевский М.С., Алешин А.Н., Титков А.Н. |
г. Санкт-Петербург, Россия |
Наблюдение кинетики зарядов в органических приборных структурах методами сканирующей Кельвин-зонд микроскопии |
|
14.30–14.45 |
Баран Л.В. |
г. Минск, Беларусь |
Применение метода модуляции силы для исследования локальной жесткости пленок хром–фуллерит–хром |
|
14.45–15.00 |
Глуховской Е.Г., Хомутов Г.Б., Горбачев И.А., Ермаков А.В., Чумаков А.С., Ким В.П. |
г. Саратов, г. Москва, Россия |
Исследования морфологии органических пленок: пленок Ленгмюра–Блоджетт и модифицированных мембран липосом |
|
15.00–15.15 |
Рогачев А.А. |
г. Гомель, Беларусь |
Применение атомно-силовой микроскопии и поляризационной инфракрасной спектроскопии для анализа сверхтонких полимерных покрытий |
|
15.15–15.30 |
Кофе-брейк |
|
15.30-16.45 |
СЕКЦИЯ 2. Применение методов СЗМ в биологических исследованиях.
Председатель секции: М.В. Гольцев |
|
15.30–15.45 |
Longo G., Rio L.M., Trampuz A., Bizzini A., Dietler G., Kasas S. |
Lausanne, Switzerland |
Exploring bacterial resistance to antibiotics by atomic force microscopy |
|
15.45–16.00 |
Перевозчиков П.А., Карбань О.В., Васильев Ю.Г., Красноперов Д.И. |
г. Ижевск, Россия |
Особенности применения сканирующей зондовой микроскопии при изучении неклеточных структур в тканях внутренней среды |
|
16.00–16.15 |
Стародубцева М.Н., Егоренков Н.И., Никитина И.А. |
г. Гомель, Беларусь |
Фрикционные свойства поверхностного слоя биологических клеток, оцененные с помощью микроскопии латеральных сил |
|
16.15–16.30 |
Игнатовский М.И., Лашковский В.В., Сергей О.А. |
г. Гродно, Беларусь |
Изучение патологии хрящевой ткани с использованием трехмерных микроскопических изображений высокого разрешения |
|
16.30–16.45 |
Дрозд Е.С., Шамова Е.В., Бичан О.Д., Горудко И.В., Шумаев К.Б., Ванин А.Ф., Соколов А.В., Грудинина Н.В., Бушук С.Б., Бушук Б.А., Васильев В.Б., Панасенко О.М., Чижик С.А., Черенкевич С.Н. |
г. Минск, Беларусь
г. Москва, г. Санкт-Петербург, Россия |
Оценка функционального состояния тромбоцитов методом атомно-силовой микроскопии |
|
19.00 |
Театральная программа |
| |
|
|
|
|
15 ноября 2012 г. |
|
9.00–11.00 |
СЕКЦИЯ 3. Новые методики СЗМ. Моделирование микро- и наномасштабных процессов с использованием СЗМ-данных.
Председатель секции: М.А. Бондаренко |
|
9.00–9.15 |
Борщаговский Е.Г., Фишер У., Шмид Т., Зеноби Р. |
г. Киев, Украина
г. Мюнстер, Германия
г. Цюрих, Швейцария |
Использование функционализированных зондов в микроскопии ближнего поля |
|
9.15–9.30 |
Айзикович С.М., Кренев Л.И. |
г. Ростов-на-Дону, Россия |
Учет температуры при анализе взаимодействия штампа с фунционально-градиентным покрытием |
|
9.30–9.45 |
Khudoley A., Chizhik S., Wierzcholski K., Miszczak A., Chikunov V., Shasholko D. |
Minsk, Belarus
Koszalin, Gdynia, Poland |
Estimation of the viscosity parameters for ultra thin layer of liquid |
|
9.45–10.00 |
Khudoley A., Kuznetsova T., Chizhik S., Wierzcholski K., Miszczak A. |
Minsk, Belarus Koszalin, Poland Gdynia, Poland |
Precision measurements of sliding microbearing radial clearance and grooves geometry |
|
10.00–10.15 |
Трубчик И.С. |
г. Ростов-на-Дону, Россия |
Расчетная модель деформирования функционально-градиентного клина |
|
10.15–10.30 |
Волков С.С., Митрин Б.И., Федотов И., Дрозд Е.С. |
г. Ростов-на-Дону, Россия
г. Претория, ЮАР
г. Минск, Беларусь |
Метод определения механических свойств мягкого неоднородного слоя с использованием атомно-силовой микроскопии |
|
10.30–10.45 |
Абетковская С.О., Чижик С.А. |
г. Минск, Беларусь |
Развитие математических моделей колебаний зонда в динамическом полуконтактном режиме работы атомно-силового микроскопа |
|
10.45–11.00 |
Сергеев О.В., Лакомбе Ю., Чаканга К., Гейзендорфер Ш., Майдель К., Агерт К. |
г. Ольденбург, Германия |
Влияние топографии поверхности переднего контакта на процессы рассеяния и поглощения света в тонкопленочном кремниевом солнечном элементе |
|
11.00–11.15 |
Мартыняк Р.М., Чумак К.А., Слободян Б.С., Чижик С.А. |
г. Львов, Украина
г. Минск, Беларусь |
Моделирование адгезионного контакта деформируемых тел с текстурированными поверхностями |
|
11.15–11.30 |
Кофе-брейк |
|
11.30–12.45 |
СЕКЦИЯ 4. Развитие аппаратных и программных средств СЗМ.
Председатель секции: В.М. Ясинский |
|
11.30–11.45 |
Кравчук К.С., Гоголинский К.В., Усеинов А.С., Кузнецов А.П., Решетов В.Н., Голубев С.С. |
г. Троицк, Россия г. Москва, Россия |
Метрологический сканирующий зондовый микроскоп с лазерным интерферометром “Наноскан-3Di” |
|
11.45–12.00 |
Билоконь С.А., Рева И.А., Бондаренко М.А., Рудь М.П. |
г. Черкассы, Украина |
Математическое моделирование процесса деформации измерительной системы атомно-силового микроскопа и расчет допустимых режимов ее работы |
|
12.00–12.15 |
Комар О.М., Бондаренко А.В., Котов Д.А. |
г. Минск, Беларусь |
Методики изучения наноразмерных поверхностных структур меди |
|
12.15–12.30 |
Mikhaylov A., Notz-Pekkanen J., Dietler G. |
Lausanne, Switzerland |
Study of DNA relaxation on mica with further automatic tracing |
|
12.30–12.45 |
Filimonenko D.S., Pustakhod D.I., Chizhevsky V.N., Yasinskii V.M. |
Minsk, Belarus |
Scanning near-field optical microscopy of the luminescence of the n–v centers in nanodiamond |
|
12.45–13.45 |
Перерыв на обед |
|
13.45 |
Экскурсионная программа и торжественный ужин |
| |
|
16 ноября 2012 г. |
|
9.00–10.45 |
СТЕНДОВАЯ СЕССИЯ
Председатель сессии: А.А. Суслов |
|
СТ 1 Короткое сообщение |
Михалкович О.М., Барайшук С.М., Ташлыков И.C. |
г. Минск, Беларусь |
Структура и свойства систем титановое покрытие/кремний, полученных осаждением титана на кремний в условиях облучения собственными ионами |
|
СТ 2 Короткое сообщение |
Мить К.А. |
г. Астана, Казахстан |
Атомно-силовая микроскопия в задачах контроля затравочного слоя нанокристаллов оксида цинка |
|
СТ 3 Короткое сообщение |
Муравьева Т.И., Курбаткин И.И. |
г. Москва, Россия |
Структурные исследования стекловолокнистых пленок на кварцевой подложке |
|
СТ 4 Короткое сообщение |
Тарендь М.В., Кузнецова Т.А., Чижик С.А. |
г. Минск, Беларусь |
Исследование методом атомно-силовой микроскопии износа поверхностей микроэлектромеханических систем |
|
СТ 5 Короткое сообщение |
Парибок И.В., Жавнерко Г.К., Агабеков В.Е. |
г. Минск, Беларусь |
АСМ-исследование особенностей адсорбции бычьего сывороточного альбумина на микроструктурированные пленки дипальмитоилфосфати-дилхолина |
|
СТ 6 Короткое сообщение |
Скопцов Е.А., Жавнерко Г.К., Агабеков В.Е., Татульченков М.Ю., Шманай В.В. |
г. Минск, Беларусь |
Самоорганизация олигонуклеотидов, Днк и золотых наночастиц на поверхности |
|
СТ 7 Короткое сообщение |
Алпысбаева Б.Е., Коробова Н.Е., Рягузов А.П., Немкаева Р.Р. |
г. Алматы, Казахстан |
Атомно-силовая микроскопия–современный метод визуализации биологических объектов |
|
СТ 8 Короткое сообщение |
Гольцев М.В., Кухаренко Л.В., Лещенко В.Г., Гольцева М.В., Кудрицкий Д.В. |
г. Минск, Беларусь |
Применение методов атомно-силовой и растровой электронной микроскопии в исследованиях поверхности биологических структур и хирургического инструмента с внедрением в учебный процесс в Белорусском Государственном медицинском университете |
|
СТ 9 Короткое сообщение |
Кухаренко Л.В., Чижик С.А., Дрозд Е.С., Сыроежкин С.В., Гольцев М.В., Гелис Л.Г., Медведева Е.А., Лазарева И.В. |
г. Минск, Беларусь |
Исследование функциональной активности тромбоцитов методом атомно-силовой микроскопии |
|
СТ 10 Короткое сообщение |
Маланчук Н.И., Чумак К.А., Мартыняк Р.М., Чижик С.А. |
Львов, Украина |
Фрикционный контакт упругих тел с микротекстурированными поверхностями |
|
СТ 11 Короткое сообщение |
Kukharenko L.V., Schimmel Th., Fuchs H., Barczewski M., Shman T.V., Tarasova A.V. |
Minsk, Belarus
Karlsruhe, Munster, Germany |
Atomic force microscopy investigation of human mesenchymal stem cells |
|
СТ 12 Короткое сообщение |
Судас М.С., Дрозд Е.С., Станкуть А.Э., Чижик С.А., Красочко П.А., Струк М.С. |
г. Минск, Беларусь |
Оценка влияния наночастиц на морфологию и упругие характеристики биологических клеток |
|
СТ 13 Короткое сообщение |
Судас М.С., Дрозд Е.С., Чижик С.А., Жорник Е.В., Баранова Л.А., Нгуен Хоай Тьяу |
г. Минск, Беларусь
г. Ханой, Вьетнам |
Исследование влияния наночастиц серебра на лимфоциты человека |
|
СТ 14 Короткое сообщение |
Vo Thanh Tung, Nguyen Trong Tinh, Nguyen Hoang Yen, Nguyen Dai Thach, Dang Anh Tuan |
Hue city, Vietnam |
Analysing topography data from atomic force microscopy using comsol multiphysics |
|
СТ 15 Короткое сообщение |
Аракелян С.М., Кутровская С.В., Кучерик A.O., Троицкий Д.П., Быков В.А., Леесмент С.И. |
г. Владимир, г. Зеленоград, Россия |
Использование методов фрактальной геометрии для анализа избыточности данных, полученных с использованием атомно-силового микроскопа |
|
СТ 16 Короткое сообщение |
Локтионов А.А., Аргынова А.Х., Мить К.А., Мухамедшина Д.М. |
г. Алматы, Казахстан |
Анализ размеров кристаллитов в тонких ZnO пленках на основе цифровых данных сканирующего зондового микроскопа |
|
СТ 17 Короткое сообщение |
Ногтев Д.С., Кутровская С.В., Кучерик A.O., Быков В.А., Леесмент С.И. |
г. Владимир, г. Зеленоград, Россия |
Использование методов фрактальной геометрии для улучшения качества изображений атомно-силовой микроскопии |
|
СТ 18 Короткое сообщение |
Alyamani A., Khudoley A., Kuznetsova T., Alfihed S.,
Alotaibi M. |
Riyadh, Saudi Arabia г. Минск, Беларусь |
Layer-by-layer analysis of multilayered materials |
|
СТ 19 Короткое сообщение |
Абетковская С.О., Чикунов В.В., Погоцкая И.В., Чижик С.А., Нгуен Тронг Тинх, Во Тхан Тунг |
г. Минск, Беларусь
г. Ханой, г. Хуэ, Вьетнам |
Атомно-силовая микроскопия для измерения электрических и прочностных свойств оксидных и адсорбционных слоев |
|
СТ 20 Короткое сообщение |
Berezina S., Podzorova l.I., Il'icheva A.A., Alad'ev N.A., Pen'kova O.J., Shvorneva l.I. |
Žilina, Slovakia
Moscow, Russia |
Study of microstructure of modified [CE-TZP] - [AL2O3] ceramics |
|
СТ 21 Короткое сообщение |
Абдо Абдулгани Мохаммед С. |
Минск, Беларусь |
Изображение фазового контраста в исследовании биологических объектов |
|
10.45–11.00 |
Кофе-брейк |
|
11.00–12.10 |
СЕКЦИЯ 5. Прикладные аспекты СЗМ в промышленности.
Председатель секции: А.Л. Толстихина |
|
11.00–11.15 |
Голубев С.С., Голубев С.Н. |
г. Москва, Россия |
Методы и средства метрологического обеспечения измерений с помощью сканирующей зондовой микроскопии |
|
11.15–11.30 |
Карбань О.В., Балиж К.С., Решетников С.М., Маклецов В.Г. |
г. Ижевск, г. Зеленоград, Россия |
Исследование структурных особенностей стали крупногабаритных изделий (оборудования) методами сканирующей зондовой микроскопии |
|
11.30–11.45 |
Чижик С.А., Кузнецова Т.А., Худолей А.Л., Комаров А.И., Комарова В.И., Василенко М.С. |
г. Минск, г. Гомель, Беларусь |
Изучение тонкой структуры высокопрочного чугуна методом атомно-силовой микроскопии |
|
11.45–12.00 |
Кузнецова Т.А., Ширяева Т.И., Чижик С.А. |
г. Минск, Беларусь |
Использование частиц порошков в качестве наконечников зондов для сканирующей зондовой микроскопии при иследовании физико-механических свойств материалов |
|
12.00–12.15 |
Чижик С.А., Басалаев С.П., Пилипенко В.А., Худолей А.Л., Кузнецова Т.А., Чикунов В.В., Суслов А.А. |
г. Минск, г. Гомель, Беларусь |
Контроль качества субмикронных элементов интегральных микросхем, выполненных на кремниевых пластинах |
|
12.15–13.00 |
КРУГЛЫЙ СТОЛ. ЗАКРЫТИЕ КОНФЕРЕНЦИИ |
|
13.00–14.00 |
Перерыв на обед |
|
14.00–15.30 |
Посещение Института искусствоведения, этнографии и фольклора |
