ПЛЕНАРНОЕ ЗАСЕДАНИЕ

Свириденок А. И. Ресурсы нанотехнологического развития Беларуси /// 3

Бухараев А. А., Бизяев Д. А., Нургазизов Н. И., Ханипов Т. Ф. Получение и исследование планарных магнитных наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии /// 13

Чижик С. А. Основные тенденции развития сканирующей зондовой микроскопии в Беларуси /// 18

Миронов В. Л., Ермолаева О. Л. Магнитно-силовая микроскопия доменных стенок в ферромагнитных нанопроволоках /// 21

Суханова Т. Е., Вылегжанина М. Э., Валуева С. В., Соколова М. П., Кутин А. А., Волков А. Я., Боровикова Л. Н., Гельфонд М. Л. Атомно-силовая микроскопия наноструктур для фотодинамической терапии /// 25

Vo Thanh Tung, Nguyen Trong Tinh, Nguyen Hoang Yen, Ton That Dung Measuring the ferroelectric hysteresis using the RT66A system and the Sawyer-Tower circuit /// 33

Гайнутдинов Р. В., Лысова O. A., Толстихина A. Л., Юдин С. Г., Фридкин В. М., Ducharme S. Исследование роста и кинетики переключения сегнетоэлектрических нанокристаллов сополимера винилденфторида-трифторэтилена в атомно-силовом микроскопе /// 39

Ясинский В. М., Рыжевич А. А., Смирнов А. Г., Шулицкий Б. Г. Оптоволоконный зонд для ближнеполевой оптической нанолитографии /// 43

Секция 1

ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДОВ СЗМ В ФИЗИЧЕСКИХ И ХИМИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЯХ. СМЕЖНЫЕ ВОПРОСЫ фИЗИКИ И ХИМИИ НАНОСТРУКТУР, МИКРО- И НАНОМЕХАНИКИ, МИКРО- И НАНОТРИБОЛОГИИ

Бондаренко М. А., Яценко И. В., Петлеванный П. В., Коваленко Ю. И., Ващенко В. А. Применение метода атомно-силовой микроскопии в изучении доменно-диссипативных структур, сформированных в пьезокерамике электронно-лучевым методом /// 48

Ахмадишина К. Ф., Бобринецкий И. И., Комаров И. А., Ромашкин А. В. Исследование проводящих покрытий на основе углеродных нанотрубок для создания прозрачных гибких электронных устройств методами сканирующей зондовой микроскопии и комбинационного рассеяния света /// 53

Стецюра С. В., Маляр И. В. Применение метода зонда Кельвина для исследования влияния полиэлектролитного покрытия и освещения на поверхностный потенциал кремния /// 59

Курбаткин И. И., Муравьева Т. И., Мезрин А. М., Фролов Н. Н. Исследование структурных и трибологических параметров стекловолокнистых пленок /// 65

Комаров И. А., Лаврентьев К. К., Левин Д. Д., Неволин В. К. Получение мультиграфеновых пакетов и методика группового определения их толщины с помощью зондовой микроскопии /// 71

Прохоров В. В. Изучение ламеллярных наноструктур олигопептидов и цианиновых красителей на поверхности пиролитического графита методом атомно-силовой микро- скопии высокого разрешения /// 76

Губанова Г. Н., Тимпу Д., Корыткова Э. Н., Вылегжанина М. Э., Суханова Т. Е., Волков А. Я., Масленникова Т. П., Кононова С. В. Морфология и структура нанокомпозитов с ленточно-цепочечными Na–Mg-силикатами и гидросиликатами Mg трубчатого строения /// 81

Антонюк В. С., Свиридова О. В., Бондаренко М. А. Исследование структуры рабочей поверхности слаботочных контактов токосъемников гироскопических приборов в процессе их эксплуатации методом атомно-силовой микроскопии /// 86

Курилёнок Н. А., Парибок И. В. АСМ-исследование адгезионных свойств пленочных мембран до и после фильтрации раствора казеина /// 93

Барайшук С. М., Ташлыкова-Бушкевич И. И., Яковенко Ю. С. Морфология поверхности быстрозатвердевших фольг алюминия и его бинарных сплавов /// 97

Бугров А. Н., Вылегжанина М. Э., Суханова Т. Е., Альмяшева О. В., Светличный В. М. Атомно-силовая микроскопия полимерных нанокомпозитов на основе полиимида ПМ и наночастиц диоксида циркония /// 102

Туровец А. И., Ташлыков И. С. Морфология и смачиваемость поверхности системы Mo/стеклянная подложка, формируемой методом SIAD /// 108

Бондаренко Ю. Ю., Андриенко В. А., Бондаренко М. А., Маслянык С. В. Методологические аспекты проведения нанометрических исследований в дистанционной системе образования /// 115

Краснобородько С. Ю., Шевяков В. И. Методологические аспекты сканирующей электропроводящей и магнитной силовой микроскопии /// 120

Боргеков Д. Б., Жумажанова А. Т., Сайфулин М. М., Антонов А. Ю., Горин Е. Г., Машенцева А. А., Здоровец М. В. Сравнительный анализ методов атомно-силовой и рас- тровой электронной микроскопии для исследования радиационно-модифицированного полиэтилентерефталата /// 126

Дементьев П. А., Дунаевский М. С., Алешин А. Н., Титков А. Н. Наблюдение кинетики зарядов в органических приборных структурах методами сканирующей кельвин-зонд микроскопии /// 131

Баран Л. В. Применение метода модуляции силы для исследования локальной жесткости пленок хром–фуллерит–хром /// 137

Глуховской Е. Г., Хомутов Г. Б., Горбачев И. А., Ермаков А. В., Чумаков А. С., Ким В. П. Исследования морфологии органических пленок: пленок Ленгмюра–Блоджетт и модифицированных мембран липосом /// 143

Михалкович О. М., Барайшук С. М., Ташлыков И. C. Структура и свойства систем титановое покрытие–кремний, полученных осаждением титана на кремний в условиях облучения собственными ионами /// 149

Мить К. А. Атомно-силовая микроскопия в задачах контроля затравочного слоя нанокристаллов оксида цинка /// 155

Муравьева Т. И., Курбаткин И. И. Структурные исследования стекловолокнистых пленок на кварцевой подложке /// 160

Тарендь М. В., Кузнецова Т. А., Чижик С. А. Исследование методом атомно-силовой микроскопии износа поверхностей микроэлектромеханических систем /// 164

Парибок И. В., Жавнерко Г. К., Агабеков В. Е. АСМ-исследование особенностей ад- сорбции бычьего сывороточного альбумина на микроструктурированные пленки дипальмитоилфосфатидилхолина /// 170

Скопцов Е. А., Жавнерко Г. К., Агабеков В. Е., Татульченков М. Ю., Шманай В. В. Самоорганизация олигонуклеотидов, ДНК и золотых наночастиц на поверхности /// 175

Рогачев А. А. Применение атомно-силовой микроскопии и поляризационной инфракрасной спектроскопии для анализа сверхтонких полимерных покрытий /// 179

Секция 2

ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДОВ СЗМ В БИОЛОГИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЯХ

Longo G., Rio L. M., Trampuz A., Bizzini A., Dietler G., Kasas S. Exploring bacterial resistance to antibiotics by atomic force microscopy /// 185

Кухаренко Л. В., Чижик С. А., Дрозд Е. С., Сыроежкин С. В., Гольцев М. В., Гелис Л. Г., Медведева Е. А., Лазарева И. В. Исследование функциональной активности тромбоци- тов методом атомно-силовой микроскопии /// 189

Перевозчиков П. А., Карбань О. В., Васильев Ю. Г., Красноперов Д. И. Особенности применения сканирующей зондовой микроскопии при изучении неклеточных структур в тканях внутренней среды /// 193

Стародубцева М. Н., Егоренков Н. И., Никитина И. А. Фрикционные свойства поверхностного слоя биологических клеток, оцененные с помощью микроскопии латеральных сил /// 197

Игнатовский М. И., Лашковский В. В., Сергей О. А. Изучение патологии хрящевой ткани с использованием трехмерных микроскопических изображений высокого разрешения /// 200

Дрозд Е. С., Шамова Е. В., Бичан О. Д., Горудко И. В., Шумаев К. Б., Ванин А. Ф., Соколов А. В., Грудинина Н. В., Бушук С. Б., Бушук Б. А., Васильев В. Б., Панасенко О. М., Чижик С. А., Черенкевич С. Н. Оценка функционального состояния тромбоцитов мето- дом атомно-силовой микроскопии /// 205

Алпысбаева Б. Е., Коробова Н. Е., Рягузов А. П., Немкаева Р. Р. Атомно-силовая микроскопия – современный метод визуализации биологических объектов /// 211

Kukharenko L. V., Schimmel Th., Fuchs H., Barczewski M., Shman T. V., Tarasova A. V. Atomic force microscopy investigation of human mesenchymal stem cells /// 217

Гольцев М. В., Кухаренко Л. В., Лещенко В. Г., Гольцева М. В., Кудрицкий Д. В. Применение методов атомно-силовой и растровой электронной микроскопии в исследованиях поверхностей биологических структур и хирургического инструмента с внедрением в учебный процесс в Белорусском государственном медицинском университете /// 221

Судас М. С., Дрозд Е. С., Станкуть А. Э., Чижик С. А., Красочко П. А., Струк М. С. Оценка влияния наночастиц на морфологию и упругие характеристики биологических клеток /// 227

Судас М. С., Дрозд Е. С., Чижик С. А., Жорник Е. В., Баранова Л. А., Нгуен Хоай Тьяу Исследование влияния наночастиц серебра на лимфоциты человека /// 231

Секция 3

НОВЫЕ МЕТОДИКИ СЗМ. МОДЕЛИРОВАНИЕ МИКРО- И НАНОМАСШТАБНЫХ ПРОЦЕССОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СЗМ-ДАННЫХ

Борщаговский Е. Г., Фишер У., Шмид Т., Зеноби Р. Использование функционализи- рованных зондов в микроскопии ближнего поля /// 235

Айзикович С. М., Кренев Л. И. Учет температуры при анализе взаимодействия штампа с функционально-градиентным покрытием /// 239

Khudoley A., Chizhik S., Wierzcholski K., Miszczak A., Chikunov V., Shasholko D. Estimation of the viscosity parameters for ultra thin layer of liquid /// 244

Khudoley A., Kuznetsova T., Chizhik S., Wierzcholski K., Miszczak A. Precision measurements of sliding microbearing radial clearance and grooves geometry /// 248

Трубчик И. С. Расчетная модель деформирования функционально-градиентного клина /// 257

Волков С. С., Митрин Б. И., Федотов И., Дрозд Е. С. Метод определения механических свойств мягкого неоднородного слоя с использованием атомно-силовой микроскопии /// 265

Абетковская С. О., Чижик С. А. Развитие математических моделей колебаний зонда в динамическом полуконтактном режиме работы атомно-силового микроскопа /// 270

Alyamani A., Khudoley A., Kuznetsova T., Alfihed S., Alotaibi M. Layer-by-layer analysis of multilayered materials /// 277

Сергеев О. В., Лакомбе Ю., Чаканга К., Гейзендорфер Ш., Майдель К., Агерт К. Влияние топографии поверхности переднего контакта на процессы рассеяния и поглощения света в тонкопленочном кремниевом солнечном элементе /// 284

Секция 4

РАЗВИТИЕ АППАРАТНЫХ И ПРОГРАММНЫХ СРЕДСТВ СЗМ

Кравчук К. С., Гоголинский К. В., Усеинов А. С., Кузнецов А. П., Решетов В. Н., Голубев С. С. Метрологический сканирующий зондовый микроскоп с лазерным интерферометром «НаноСкан-3Di» /// 293

Билоконь С. А., Рева И. А., Бондаренко М. А., Рудь М. П. Математическое моделирование процесса деформации измерительной системы атомно-силового микроскопа и расчет допустимых режимов ее работы /// 297

Комар О. М., Бондаренко А. В., Котов Д. А. Методики изучения наноразмерных по- верхностных структур меди /// 301

Mikhaylov A., Notz-Pekkanen J., Dietler G. Study of DNA relaxation on mica with further automatic tracing /// 305

Filimonenko D. S., Pustakhod D. I., Chizhevsky V. N., Yasinskii V. M. Scanning near-field optical microscopy of the luminescence of the NV-centers in nanodiamond /// 309

Vo Thanh Tung, Nguyen Trong Tinh, Nguyen Hoang Yen, Nguyen Dai Thach, Dang Anh Tuan Analysing topography data from atomic force microscopy using COMSOL Multiphysics /// 314

Аракелян С. М., Кутровская С. В., Кучерик A. O., Троицкий Д. П., Быков В. А., Леесмент С. И. Использование методов фрактальной геометрии для анализа избыточности данных, полученных с использованием атомно-силового микроскопа /// 317

Локтионов А. А., Аргынова А. Х., Мить К. А., Мухамедшина Д. М. Анализ размеров кристаллитов в тонких пленках ZnO на основе цифровых данных сканирующего зондового микроскопа /// 322

Ногтев Д. С., Кутровская С. В., Кучерик A. O., Быков В. А., Леесмент С. И. Использование методов фрактальной геометрии для улучшения качества изображений атомно-силовой микроскопии /// 328

Абетковская С. О., Чикунов В. В., Погоцкая И. В., Чижик С. А., Нгуен Тронг Тинх, Во Тхан Тунг Атомно-силовая микроскопия для измерения электрических и прочностных свойств оксидных и адсорбционных слоев /// 333

Секция 5

ПРИКЛАДНЫЕ АСПЕКТЫ СЗМ В ПРОМЫШЛЕННОСТИ

Голубев С. С., Голубев С. Н. Методы и средства метрологического обеспечения измерений с помощью сканирующей зондовой микроскопии /// 338

Карбань О. В., Балиж К. С., Решетников С. М., Маклецов В. Г. Исследование структурных особенностей стали крупногабаритных изделий (оборудования) методами сканирующей зондовой микроскопии /// 344

Чижик С. А., Кузнецова Т. А., Худолей А. Л., Комаров А. И., Комарова В. И., Василенко М. С., Полевиков В. М. Изучение субструктуры высокопрочного чугуна методом атомно-силовой микроскопии /// 349

Кузнецова Т. А., Ширяева Т. И., Чижик Н. В. Использование частиц порошков в качестве наконечников зондов для сканирующей зондовой микроскопии при иследовании физико-механических свойств материалов /// 358

Чижик С. А., Басалаев С. П., Пилипенко В. А., Худолей А. Л., Кузнецова Т. А., Чикунов В. В., Суслов А. А. Контроль качества субмикронных элементов интегральных микросхем, выполненных на кремниевых пластинах /// 363