• ДОКЛАДЫ •
ОРГАНИЗАТОРЫ
ДЛЯ СКАЧИВАНИЯ
СБОРНИК ДОКЛАДОВ на конференции доступен в формате PDF (26 MB) Дополнительные страницы сборника — цветные вклейки (6 MB) - - - - - - - - - - - - - - - -
КАЛЕНДАРЬ
Работа семинара:
ДЛЯ
КОНТАКТОВ
Оргкомитет БелСЗМ-IX Internet: byspm.narod.ru Телефоны для справок:
|
IX
Международная конференция МЕТОДОЛОГИЧЕСКИЕ АСПЕКТЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ 2010 Минск, Беларусь ••• 12–15 октября 2010 г.
••• СБОРНИК ДОКЛАДОВ
Библиографическая информация
M54 Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сб. докл.
IX Междунар. конф., Минск, 12–15 окт. 2010 г. / Нац. акад. наук Беларуси, Ин-т
тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова ; редкол.: С. А. Чижик (пред.) [и др.].
– Минск : Беларус. навука, 2010. – 266 с. Представлены материалы IХ Международной конференции «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии» (БелСЗМ-2010). Содержание докладов отражает последние достижения ученых Беларуси, исследователей из России, Украины, Польши, Германии, Швейцарии в развитии и применении методов сканирующей зондовой микроскопии для решения научных и технических задач, а также затрагивает фундаментальные и прикладные вопросы физики, химии и биологии. Сборник может быть полезен научным сотрудникам, преподавателям, аспирантам и студентам старших курсов физических, химических, медицинских, биологических и технических специальностей вузов. УДК 53.086(082)
Содержание ПЛЕНАРНОЕ ЗАСЕДАНИЕ Свириденок А. И. Место сканирующей зондовой микроскопии в нанонауке и нанотехнологиях \\\ 3 Саранин А. А., Зотов А. В., Грузнев Д. В. Динамика атомов на поверхности кремния \\\ 8 Чижик С. А. Экспериментальные методы наномеханики на базе атомно-силовой микроскопии \\\ 10 Лысенко О. Г., Грушко В. И., Новиков Н. В. Сканирующая зондовая микроскопия с алмазным острием: результаты и перспективы \\\ 17 Титков А. Н. Применение методов сканирующей зондовой микроскопии для изучения ансамблей металлических наночастиц \\\ 23 Миронов В. Л., Фраерман А. А., Грибков Б. А., Ермолаева О. Л., Гусев С. А. Магнитно-силовая микроскопия ферромагнитных наночастиц с неоднородным распределением намагниченности \\\ 29 Суханова Т. Е., Вылегжанина М. Э., Валуева С. В., Боровикова Л. Н., Волков А. Я., Матвеева Н. А., Гельфонд М. Л. Атомно-силовая микроскопия селенсодержащих наноструктур на основе водорастворимых полимеров \\\ 35 Стародубцева М. Н., Егоренков Н. И. АСМ-анализ влияния химически активных агентов на релаксационное состояние полимеров, включая биополимеры \\\ 40 Толстихина А. Л. Артефакты при АСМ-измерениях в воздушной среде: их источники и способы устранения \\\ 46 Секция 1 Коваленко Ю. И., Канашевич Г. В., Бойко В. П., Ващенко В. А., Рудь М. П., Яценко И. В. Применение метода атомно-силовой микроскопии в исследовании стойкости к морской воде металлизированных поверхностей оптических стекол, модифицированных электронным потоком \\\ 50 Баран Л. В. Особенности изменения структурно-фазового состояния и электрических свойств пленок олово–фуллерит при отжиге \\\ 56 Белугина Н. В., Гайнутдинов Р. В., Ломакова Е. М., Толстихина А. Л., Долбинина В. В., Сорокина Н. И., Алексеева О. А. Атомно-силовая микроскопия кристаллов триглицинсульфата с примесями замещения и внедрения \\\ 63 Туровец А. И., Барайшук С. М., Ташлыков И. С. Влияние облучения ионами Xe+ на топографию и состав поверхности графита \\\ 68 Ковалева С. А., Григорьева Т. Ф., Витязь П. А. Применение атомно-силовой микроскопии к изучению процессов кристаллизации диффузионно-твердеющих сплавов \\\ 76 Гольцев М. В., Кухаренко Л. В., Гольцев В. П., Баран Л. В. Применение атомно-силовой микроскопии в исследованиях морфологии поверхности композиционных ионно-плазменных покрытий и ионно-легированных материалов \\\ 81 Губанова Г. Н., Вылегжанина М. Э., Суханова Т. Е., Кононова С. В., Корыткова Э. Н. Исследование нанокомпозитов на основе полиамидоимида и гидросиликатных нанотрубок методом атомно-силовой микроскопии \\\ 87 Суслякова Т. Н., Зайцев А. Л., Бильдюкевич Л. Ю. Исследование поверхностей прессованного фенолформальдегидного олигомера методом атомно-силовой микроскопии \\\ 91 Парибок И. В., Жавнерко Г. К., Агабеков В. Е. Исследование морфологии композиционных пленок полиэтиленимин/магнетит/полиакриловая кислота методом атомно-силовой микроскопии \\\ 93 Куликовская В. И., Башмаков И. А., Грачева Е. А., Агабеков В. Е., Капуцкий Ф. Н. Влияние одноатомных алифатических спиртов на морфологию сетчатых пленок нитроцеллюлозы \\\ 97 Никитина И. А., Стародубцева М. Н. АСМ-исследование тимоцитов животных разного возраста в условиях окислительного стресса \\\ 101 Kukharenko L. V., Schimmel Th., Walheim S., Goltseva M. V., Aleinikova O. V., Shman T. V., Kukharenko A. A. Scanning force microscopy study of k562 cells with and without etoposide treatment \\\ 105 Дрозд Е. С., Глеб Е. Ю., Жорник Е. В., Нгуен Хоай Тьяу, Лапотко Д. О., Чижик С. А. Оценка взаимодействия наночастиц с биологическими клетками \\\ 109 Секция 2 Меркулов В. С. Новые методики сканирующей эллипсометрии \\\ 113 Погоцкая И. В., Кузнецова Т. А., Чижик С. А., Айзикович С. М. Метод статической силовой спектроскопии при определении упругих характеристик пленок Ленгмюра–Блоджетт \\\ 118 Дрозд Е. С., Чижик С. А. Метод оценки локальных упругих свойств биологических клеток на базе атомно-силовой микроскопии \\\ 124 Крень А. П., Абетковская С. О., Наумов А. О., Чижик С. А. Определение функции ползучести полимерных материалов методом атомно-силовой микроскопии \\\ 130 Секция 3 Бондаренко М. А., Мусиенко М. П., Бондаренко Ю. Ю., Конопальцева Л. И. Виртуальная лаборатория атомно-силовой микроскопии и нанометрических исследований в современном технологическом университете \\\ 136 Jarzabek D., Chikunov V. V., Rymuza Z., Chizhik S. A. Oscillating afm module and its use to decrease adhesion at interface tip-polymeric film \\\ 141 Чикунов В. В., Ясинский В. М. Разработка сканирующего ближнеполевого оптического микроскопа для биофизических исследований \\\ 144 Карелин Н. В., Томко А. С. Расширение возможностей обработки данных сканирующей зондовой микроскопии в программе SurfaceXplorer с помощью пакета Matlab \\\ 149 Секацкий С. К., Ясинский В. М. Использование нанопипетки в качестве многофункционального зонда для зондовой микроскопии \\\ 153 Кухаренко Л. В., Чижик С. А., Дрозд Е. С., Сыроежкин С. В., Селявко Ю. В., Гелис Л. Г., Медведева Е. А. Использование атомно-силовой микроскопии для диагностики морфофункционального состояния тромбоцитов \\\ 156 Шелестовская С. А., Бондаренко М. А., Котляр А. В., Петлеваный П. В., Куриленко П. И. Формирование упорядоченных наноструктур на поверхностях кремниевых зондов для атомно-силовой микроскопии комбинированным термовакуумным методом \\\ 162 Бутвина Л. Н., Секацкий С. К., Ясинский В. М. Ближнеполевая оптическая микроскопия инфракрасного диапазона \\\ 168 Шарапов В. М., Филимонов С. А., Суслов А. А. Совершенствование пьезокерамических сканеров для зондовых микроскопов \\\ 172 Карелин Н. В. Использование сингулярного разложения для обработки данных сканирующей ближнеполевой оптической микроскопии \\\ 177 Секция 4 Айзикович С. М., Кренев Л. И., Погоцкая И. В. Анализ упругих свойств функционально-градиентных покрытий на основе аналитического решения контактной задачи \\\ 181 Трубчик И. С., Евич Л. Н. Расчетная модель деформирования тонких градиентных покрытий, лежащих на недеформируемом основании \\\ 187 Абетковская С. О., Чижик С. А., Погоцкая И. В. Влияние характеристик системы зонд–образец на колебания зонда в динамическом полуконтактном режиме атомно-силового микроскопа \\\ 193 Колпащиков В. Л., Петров Д. А. Атомно-силовой микроскоп и флуктуации \\\ 199 Секция 5 Дубовой А. Н., Контюков Р. К., Кулаков В. А., Носов С. А., Пушкарский С. В. Использование АСМ НТ-206 в обеспечении работ по программе союзного государства «Нанотехнология СГ» \\\ 206 Снежко Д. В., Рожицкий Н. Н. Использование сканирующей зондовой микроскопии при разработке электрохемилюминесцентных нанотехнологических сенсоров \\\ 211 Курбаткин И. И., Муравьева Т. И. Использование методов электронной и зондовой микроскопии для исследования контактной поверхности подшипников скольжения \\\ 215 Рудь М. П., Бойко В. П., Канашевич Г. В., Коваленко Ю. И., Рева И. А., Ващенко В. А. Применение метода атомно-силовой микроскопии как составляющей комплексной методики измерения параметров качества оптических изделий, обработанных низкоэнергетическим электронным потоком \\\ 220 Игнатовский М. И. Зондовые методы контроля технологических параметров поверхности заготовок стекла на различных этапах обработки и изделий интегральной оптики \\\ 224 Кузнецова Т. А., Андреев М. А., Маркова Л. В. Влияние размера добавок ZrO2 на структуру хромовых ионно-лучевых покрытий \\\ 227 Секция 6 Айзикович С. М., Васильев А. С., Погоцкая И. В. Оценка модуля сдвига неоднородной среды методом кручения \\\ 232 Муравьева Т. И., Курбаткин И. И. Исследование морфологии поверхности контакта методом сканирующей зондовой микроскопии после трибологических испытаний различных материалов \\\ 237 Мельникова Г. Б., Жавнерко Г. К., Чижик С. А. Структура и механические свойства пористой основы, модифицированной пленками Ленгмюра–Блоджетт \\\ 242 Chizhik S., Khudoley A., Kuznetsova T., WierzcholskiK., Miszczak A. Micro- and nanoscale wear studies of HDD slide bearings by atomic force microscopy \\\ 247 Гилевская К. С., Грачева Е. А., Шутова Т. Г., Агабеков В. Е. Изучение морфологии микрокапсул на основе биополиэлектролитов методом сканирующей зондовой микроскопии \\\ 252 Соломянский А. Е., Жавнерко Г. К., Каратай Н. В., Агабеков В. Е. Морфология пленок Ленгмюра–Блоджетт жирных кислот \\\ 257
|
ОРГКОМИТЕТ БелСЗМ-IX Last update: November 21, 2012 |