Поддержку в проведении
конференции оказывают:

CEI

НАН Беларуси

Microtestmachines

 

1996–2010 :: 14 лет БелСЗМ 

 

Proceedings cover - Click to load enlarged image  1.1 MB -  1004x1416 px

BelSZM IX (logo)

 

 

 • ВСЕ КОНФЕРЕНЦИИ » 

 • МАТЕРИАЛЫ » 

 

ДОКЛАДЫ

• ФОТОАЛЬБОМ

• ПРОГРАММА

• ПРИГЛАШЕНИЕ »»

ОРГАНИЗАТОРЫ
ПРОГРАММНЫЙ КОМИТЕТ
ТЕМАТИКА
МЕСТО И ВРЕМЯ
РЕГЛАМЕНТ
ПУБЛИКАЦИЯ
ОПЛАТА
РАЗМЕЩЕНИЕ
ЗАЯВКА НА УЧАСТИЕ
АДРЕС

 

ДЛЯ СКАЧИВАНИЯ

СБОРНИК ДОКЛАДОВ на конференции доступен в формате PDF (26 MB)

Download :: Скачать

Дополнительные страницы сборника — цветные вклейки (6 MB)

Download :: Скачать

- - - - - - - - - - - - - - - -

Скачать Adobe Reader 9.4 (26.35 MB)

 

КАЛЕНДАРЬ

Работа семинара:
12–15 октября 2010 г. 

 

ДЛЯ КОНТАКТОВ

Оргкомитет БелСЗМ-IX
ГНУ "Институт тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова НАН Беларуси"
ул. П.Бровки 15,
220072 г. Минск, Беларусь
Тел.: +375 17 2841060
Факс: +375 17 2842212 (резервный +375 232 715463)

E-mail: byspm@mail.ru (резервный - microtm@mail.ru)

Internet: byspm.narod.ru

Телефоны для справок:

Чижик Сергей Антонович,
Абетковская Светлана Олеговна -
+375 17 2841060,
+375 44 7925439 (моб.)

Суслов Андрей Анатольевич -
+375 232 715463,
+375 29 6774642 (моб.)

 

IX Международная конференция
МЕТОДОЛОГИЧЕСКИЕ АСПЕКТЫ
СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ
МИКРОСКОПИИ

2010

Минск, Беларусь   •••   12–15 октября 2010 г.

 

••• СБОРНИК ДОКЛАДОВ  

 

 Библиографическая информация  
M54

Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : сб. докл. IX Междунар. конф., Минск, 12–15 окт. 2010 г. / Нац. акад. наук Беларуси, Ин-т тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова ; редкол.: С. А. Чижик (пред.) [и др.]. – Минск : Беларус. навука, 2010. – 266 с.
ISBN 978-985-08-1209-4.

Представлены материалы IХ Международной конференции «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии» (БелСЗМ-2010). Содержание докладов отражает последние достижения ученых Беларуси, исследователей из России, Украины, Польши, Германии, Швейцарии в развитии и применении методов сканирующей зондовой микроскопии для решения научных и технических задач, а также затрагивает фундаментальные и прикладные вопросы физики, химии и биологии.

Сборник может быть полезен научным сотрудникам, преподавателям, аспирантам и студентам старших курсов физических, химических, медицинских, биологических и технических специальностей вузов.

УДК 53.086(082)
ББК 22.338я43

 

Содержание

ПЛЕНАРНОЕ ЗАСЕДАНИЕ

Свириденок А. И. Место сканирующей зондовой микроскопии в нанонауке и нанотехнологиях \\\ 3

Саранин А. А., Зотов А. В., Грузнев Д. В. Динамика атомов на поверхности кремния \\\ 8

Чижик С. А. Экспериментальные методы наномеханики на базе атомно-силовой микроскопии \\\ 10

Лысенко О. Г., Грушко В. И., Новиков Н. В. Сканирующая зондовая микроскопия с алмазным острием: результаты и перспективы \\\ 17

Титков А. Н. Применение методов сканирующей зондовой микроскопии для изучения ансамблей металлических наночастиц \\\ 23

Миронов В. Л., Фраерман А. А., Грибков Б. А., Ермолаева О. Л., Гусев С. А. Магнитно-силовая микроскопия ферромагнитных наночастиц с неоднородным распределением намагниченности \\\ 29

Суханова Т. Е., Вылегжанина М. Э., Валуева С. В., Боровикова Л. Н., Волков А. Я., Матвеева Н. А., Гельфонд М. Л. Атомно-силовая микроскопия селенсодержащих наноструктур на основе водорастворимых полимеров \\\ 35

Стародубцева М. Н., Егоренков Н. И. АСМ-анализ влияния химически активных агентов на релаксационное состояние полимеров, включая биополимеры \\\ 40

Толстихина А. Л. Артефакты при АСМ-измерениях в воздушной среде: их источники и способы устранения \\\ 46

Секция 1
ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДОВ СЗМ В ФИЗИЧЕСКИХ, ХИМИЧЕСКИХ И БИОЛОГИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЯХ

Коваленко Ю. И., Канашевич Г. В., Бойко В. П., Ващенко В. А., Рудь М. П., Яценко И. В. Применение метода атомно-силовой микроскопии в исследовании стойкости к мор­ской воде металлизированных поверхностей оптических стекол, модифицированных электронным потоком \\\ 50

Баран Л. В. Особенности изменения структурно-фазового состояния и электрических свойств пленок олово–фуллерит при отжиге \\\ 56

Белугина Н. В., Гайнутдинов Р. В., Ломакова Е. М., Толстихина А. Л., Долбинина В. В., Сорокина Н. И., Алексеева О. А. Атомно-силовая микроскопия кристаллов триглицин­сульфата с примесями замещения и внедрения \\\ 63

Туровец А. И., Барайшук С. М., Ташлыков И. С. Влияние облучения ионами Xe+ на топографию и состав поверхности графита \\\ 68

Ковалева С. А., Григорьева Т. Ф., Витязь П. А. Применение атомно-силовой микроскопии к изучению процессов кристаллизации диффузионно-твердеющих сплавов \\\ 76

Гольцев М. В., Кухаренко Л. В., Гольцев В. П., Баран Л. В. Применение атомно-силовой микроскопии в исследованиях морфологии поверхности композиционных ионно-плазменных покрытий и ионно-легированных материалов \\\ 81

Губанова Г. Н., Вылегжанина М. Э., Суханова Т. Е., Кононова С. В., Корыткова Э. Н. Исследование нанокомпозитов на основе полиамидоимида и гидросиликатных нанотрубок методом атомно-силовой микроскопии \\\ 87

Суслякова Т. Н., Зайцев А. Л., Бильдюкевич Л. Ю. Исследование поверхностей прессованного фенолформальдегидного олигомера методом атомно-силовой микроскопии \\\ 91

Парибок И. В., Жавнерко Г. К., Агабеков В. Е. Исследование морфологии композиционных пленок полиэтиленимин/магнетит/полиакриловая кислота методом атомно-силовой микроскопии \\\ 93

Куликовская В. И., Башмаков И. А., Грачева Е. А., Агабеков В. Е., Капуцкий Ф. Н. Влияние одноатомных алифатических спиртов на морфологию сетчатых пленок нитроцеллюлозы \\\ 97

Никитина И. А., Стародубцева М. Н. АСМ-исследование тимоцитов животных разного возраста в условиях окислительного стресса \\\ 101

Kukharenko L. V., Schimmel Th., Walheim S., Goltseva M. V., Aleinikova O. V., Shman T. V., Kukharenko A. A. Scanning force microscopy study of k562 cells with and without etoposide treatment \\\ 105

Дрозд Е. С., Глеб Е. Ю., Жорник Е. В., Нгуен Хоай Тьяу, Лапотко Д. О., Чижик С. А. Оценка взаимодействия наночастиц с биологическими клетками \\\ 109

Секция 2
НОВЫЕ МЕТОДИКИ СЗМ

Меркулов В. С. Новые методики сканирующей эллипсометрии \\\ 113

Погоцкая И. В., Кузнецова Т. А., Чижик С. А., Айзикович С. М. Метод статической силовой спектроскопии при определении упругих характеристик пленок Ленгмюра–Блоджетт \\\ 118

Дрозд Е. С., Чижик С. А. Метод оценки локальных упругих свойств биологических клеток на базе атомно-силовой микроскопии \\\ 124

Крень А. П., Абетковская С. О., Наумов А. О., Чижик С. А. Определение функции ползучести полимерных материалов методом атомно-силовой микроскопии \\\ 130

Секция 3
РАЗВИТИЕ АППАРАТНЫХ И ПРОГРАММНЫХ СРЕДСТВ СЗМ

Бондаренко М. А., Мусиенко М. П., Бондаренко Ю. Ю., Конопальцева Л. И. Виртуальная лаборатория атомно-силовой микроскопии и нанометрических исследований в современном технологическом университете \\\ 136

Jarzabek D., Chikunov V. V., Rymuza Z., Chizhik S. A. Oscillating afm module and its use to decrease adhesion at interface tip-polymeric film \\\ 141

Чикунов В. В., Ясинский В. М. Разработка сканирующего ближнеполевого оптического микроскопа для биофизических исследований \\\ 144

Карелин Н. В., Томко А. С. Расширение возможностей обработки данных сканирующей зондовой микроскопии в программе SurfaceXplorer с помощью пакета Matlab \\\ 149

Секацкий С. К., Ясинский В. М. Использование нанопипетки в качестве многофункционального зонда для зондовой микроскопии \\\ 153

Кухаренко Л. В., Чижик С. А., Дрозд Е. С., Сыроежкин С. В., Селявко Ю. В., Гелис Л. Г., Медведева Е. А. Использование атомно-силовой микроскопии для диагностики морфофункционального состояния тромбоцитов \\\ 156

Шелестовская С. А., Бондаренко М. А., Котляр А. В., Петлеваный П. В., Куриленко П. И. Формирование упорядоченных наноструктур на поверхностях кремниевых зондов для атомно-силовой микроскопии комбинированным термовакуумным методом \\\ 162

Бутвина Л. Н., Секацкий С. К., Ясинский В. М. Ближнеполевая оптическая микроскопия инфракрасного диапазона \\\ 168

Шарапов В. М., Филимонов С. А., Суслов А. А. Совершенствование пьезокерамических сканеров для зондовых микроскопов \\\ 172

Карелин Н. В. Использование сингулярного разложения для обработки данных сканирующей ближнеполевой оптической микроскопии \\\ 177

Секция 4
МОДЕЛИРОВАНИЕ МИКРО- И НАНОМАСШТАБНЫХ ПРОЦЕССОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СЗМ-ДАННЫХ

Айзикович С. М., Кренев Л. И., Погоцкая И. В. Анализ упругих свойств функционально-градиентных покрытий на основе аналитического решения контактной задачи \\\ 181

Трубчик И. С., Евич Л. Н. Расчетная модель деформирования тонких градиентных покрытий, лежащих на недеформируемом основании \\\ 187

Абетковская С. О., Чижик С. А., Погоцкая И. В. Влияние характеристик системы зонд–образец на колебания зонда в динамическом полуконтактном режиме атомно-силового микроскопа \\\ 193

Колпащиков В. Л., Петров Д. А. Атомно-силовой микроскоп и флуктуации \\\ 199

Секция 5
ПРИКЛАДНЫЕ АСПЕКТЫ СЗМ В ПРОМЫШЛЕННОСТИ

Дубовой А. Н., Контюков Р. К., Кулаков В. А., Носов С. А., Пушкарский С. В. Использование АСМ НТ-206 в обеспечении работ по программе союзного государства «Нанотехнология СГ» \\\ 206

Снежко Д. В., Рожицкий Н. Н. Использование сканирующей зондовой микроскопии при разработке электрохемилюминесцентных нанотехнологических сенсоров \\\ 211

Курбаткин И. И., Муравьева Т. И. Использование методов электронной и зондовой микроскопии для исследования контактной поверхности подшипников скольжения \\\ 215

Рудь М. П., Бойко В. П., Канашевич Г. В., Коваленко Ю. И., Рева И. А., Ващенко В. А. Применение метода атомно-силовой микроскопии как составляющей комплексной методики измерения параметров качества оптических изделий, обработанных низкоэнергетическим электронным потоком \\\ 220

Игнатовский М. И. Зондовые методы контроля технологических параметров поверхности заготовок стекла на различных этапах обработки и изделий интегральной оптики \\\ 224

Кузнецова Т. А., Андреев М. А., Маркова Л. В. Влияние размера добавок ZrO2 на структуру хромовых ионно-лучевых покрытий \\\ 227

Секция 6
СМЕЖНЫЕ ВОПРОСЫ ФИЗИКИ И ХИМИИ НАНОСТРУКТУР, МИКРО-, НАНОМЕХАНИКИ, МИКРО-, НАНОТРИБОЛОГИИ

Айзикович С. М., Васильев А. С., Погоцкая И. В. Оценка модуля сдвига неоднородной среды методом кручения \\\ 232

Муравьева Т. И., Курбаткин И. И. Исследование морфологии поверхности контакта методом сканирующей зондовой микроскопии после трибологических испытаний различных материалов \\\ 237

Мельникова Г. Б., Жавнерко Г. К., Чижик С. А. Структура и механические свойства пористой основы, модифицированной пленками Ленгмюра–Блоджетт \\\ 242

Chizhik S., Khudoley A., Kuznetsova T., WierzcholskiK., Miszczak A. Micro- and nanoscale wear studies of HDD slide bearings by atomic force microscopy \\\ 247

Гилевская К. С., Грачева Е. А., Шутова Т. Г., Агабеков В. Е. Изучение морфологии микрокапсул на основе биополиэлектролитов методом сканирующей зондовой микроскопии \\\ 252

Соломянский А. Е., Жавнерко Г. К., Каратай Н. В., Агабеков В. Е. Морфология пленок Ленгмюра–Блоджетт жирных кислот \\\ 257

 

 

 

ОРГКОМИТЕТ БелСЗМ-IX
Last update: November 21, 2012

 

Hosted by uCoz