|
12 октября 2010 г. |
|
8.50–9.40 |
РЕГИСТРАЦИЯ |
|
9.40 |
ОТКРЫТИЕ IX Международной конференции “Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии – 2010” |
|
9.50–17.30 |
ПЛЕНАРНОЕ ЗАСЕДАНИЕ.
Председатель заседания – С.А. Чижик |
|
9.50–10.30 |
Свириденок А.И., Чижик С.А. |
г. Гродно, Беларусь |
Место сканирующей зондовой микросокпии в нанонауке и нанотехнологиях |
|
10.30–11.10 |
Саранин А.А., Зотов А.В., Грузнев Д.В. |
г. Владивосток, Россия |
Динамика атомов на поверхности кремния |
|
11.10–11.50 |
Чижик С.А. |
г. Минск, Беларусь |
Методы наномеханики на базе АСМ |
|
11.50–12.30 |
Лысенко О.Г., Грушко В.И., Новиков Н.В. |
г. Киев, Украина |
Сканирующая зондовая микроскопия с алмазным острием: результаты и перспективы |
|
12.30–13.30 |
Перерыв на обед |
|
13.30–14.10 |
Титков А.Н. |
г. С.-Петербург, Россия |
Применение методов сканирующей зондовой микроскопии для изучения ансамблей металлических наночастиц |
|
14.10–14.50
|
Миронов В.Л., Фраерман А.А., Грибков Б.А., Ермолаева О.Л., Гусев С.А. |
г. Н.Новгород, Россия |
Магнитно-силовая микроскопия ферромагнитных наночастиц с неоднородным распределением намагниченности |
|
14.50–15.30 |
Суханова Т.Е., Вылегжанина М.Э., Валуева С.В., Боровикова Л.Н., Волков А.Я., Матвеева Н.А., Гельфонд М.Л. |
г. С.-Петербург, Россия |
Атомно-силовая микроскопия селенсодержащих наноструктур на основе водорастворимых полимеров |
|
15.30–15.50 |
Кофе-брейк |
|
15.50–16.30 |
Стародубцева М.Н., Егоренков Н.И. |
г. Гомель, Беларусь |
АСМ-анализ влияния химически активных агентов на релаксационное состояние полимеров, включая биополимеры |
|
16.30–17.30 |
Толстихина А.Л. |
г. Москва, Россия |
Артефакты при АСМ-измерениях в воздушной среде: их источники и способы устранения |
|
|
|
13 октября 2010 г. |
|
9.30–11.45 |
СЕКЦИЯ 1. Применение методов СЗМ в физических, химических и биологических исследованиях.
Председатель секции – И.И. Курбаткин |
|
9.30–9.45 |
Коваленко Ю.И., Канашевич Г.В., Бойко В.П., Ващенко В.А., Рудь М.П., Яценко И.В. |
г. Черкассы, Украина |
Применение метода атомно-силовой микроскопии в исследовании стойкости к морской воде металлизированных поверхностей оптических стекол, модифицированных электронным потоком |
|
9.45–10.00 |
Баран Л.В. |
г. Минск, Беларусь |
Особенности изменения структурно-фазового состояния и электрических свойств пленок олово–фуллерит при отжиге |
|
10.00–10.15 |
Белугина Н.В., Гайнутдинов Р.В., Ломакова Е.М., Толстихина А.Л., Долбинина В.В., Сорокина Н.И., Алексеева О.А. |
г. Москва, Россия |
Атомно-силовая микроскопия кристаллов триглицинсульфата с примесями замещения и внедрения |
|
10.15–10.30 |
Туровец А.И., Барайшук С.М., Ташлыков И.С. |
г. Минск, Беларусь |
Влияние облучения ионами Xe+ на топографию и состав поверхности графита |
|
10.30–10.45 |
Ковалева С.А., Григорьева Т.Ф., Витязь П.А. |
г. Минск, Беларусь |
Применение атомно-силовой микроскопии к изучению процессов кристаллизации диффузионно-твердеющих сплавов |
|
10.45–11.00 |
Куликовская В.И., Башмаков И.А., Грачева Е.А., Агабеков В.Е., Капуцкий Ф.Н. |
г. Минск, Беларусь |
Влияние одноатомных алифатических спиртов на морфологию сетчатых пленок нитроцеллюлозы |
|
11.00–11.15 |
Кофе-брейк |
|
11.15–11.30 |
Губанова Г.Н., Вылегжанина М.Э., Суханова Т.Е., Кононова С.В., Корыткова Э.Н. |
г. С.-Петербург, Россия |
Исследование нанокомпозитов на основе полиамидоимида и гидросиликатных нанотрубок методом атомно-силовой микроскопии |
|
11.30–11.45 |
Суслякова Т.Н., Зайцев А.Л., Бильдюкевич Л.Ю. |
г. Минск, Беларусь |
Исследование поверхностей прессованного фенолформальдегидного олигомера методом атомно-силовой микроскопии |
|
11.45–12.00 |
Никитина И.А., Стародубцева М.Н. |
г. Гомель, Беларусь |
АСМ-исследование тимоцитов животных разного возраста в условиях окислительного стресса |
|
12.00–12.45 |
СЕКЦИЯ 2. Новые методики СЗМ.
Председатель секции – Т.Г. Кузнецова |
|
12.00–12.15 |
Меркулов В.С. |
г. Минск, Беларусь |
Новые методики сканирующей эллипсометрии |
|
12.15–12.30
|
Погоцкая И.В., Кузнецова Т.А., Чижик С.А., Айзикович С.М. |
г. Минск, Беларусь,
г. Ростов-на-Дону, Россия |
Метод статической силовой спектроскопии при определении упругих характеристик пленок Ленгмюра–Блоджетт |
|
12.30–12.45
|
Дрозд Е.С., Чижик С.А. |
г. Минск, Беларусь |
Метод оценки локальных упругих свойств биологических клеток на базе атомно-силовой микроскопии |
|
12.45–13.30 |
Перерыв на обед |
|
13.30–15.30 |
СЕКЦИЯ 3. Развитие аппаратных и программных средств СЗМ.
Председатель секции – С.М. Айзикович |
|
13.30–13.45 |
Бондаренко М.А., Мусиенко М.П., Бондаренко Ю.Ю., Конопальцева Л.И. |
г. Черкассы, Украина,
г. Николаев, Украина |
Виртуальная лаборатория атомно-силовой микроскопии и нанометрических исследований в современном технологическом университете |
|
13.45–14.00 |
Jarzabek D., Chikunov V.V., Rymuza Z., Chizhik S.A. |
Warsaw, Poland |
Oscillating AFM module and its use to decrease adhesion at interface tip-polymeric film |
|
14.00–14.15 |
Вертягина Е.Н., Бактыбеков К.С. |
г. Астана, Казахстан |
Мультифрактальная параметризация поверхностей, реконструированных из АСМ-изображений |
|
14.15–14.30
|
Чикунов В.В., Ясинский В.М. |
г. Минск, Беларусь |
Разработка сканирующего ближнеполевого оптического микроскопа для биофизических исследований |
|
14.30–14.45
|
Карелин Н.В., Томко А.С. |
г. Минск, Беларусь |
Расширение возможностей обработки данных в программе SurfaceXplorer с помощью пакета Matlab |
|
14.45–15.00 |
Секацкий С.К., Ясинский В.М. |
г. Лозанна, Швейцария,
г. Минск, Беларусь,
г. Троицк, Россия |
Использование нанопипетки в качестве многофункционального зонда для зондовой микроскопии |
|
15.00–15.15 |
Кухаренко Л.В., Чижик С.А., Дрозд Е.С., Сыроежкин С.В., Селявко Ю.В., Гелис Л.Г., Медведева Е.А. |
г. Минск, Беларусь |
Использование атомно-силовой микроскопии для диагностики морфо-функционального состояния тромбоцитов |
|
15.15–15.30 |
Шелестовская С.А., Бондаренко М.А., Котляр А.В., Петлеваный П.В., Куриленко П.И. |
г. Черкассы, Украина |
формирование упорядоченных наноструктур на поверхностях кремниевых зондов для атомно-силовой микроскопии комбинированным термовакуумным методом |
|
15.30–15.45 |
Кофе-брейк |
|
15.45–16.30 |
СЕКЦИЯ 4. Моделирование микро- и наномасштабных процессов с использованием СЗМ-данных.
Председатель секции – Г.К. Жавнерко |
|
15.45–16.00 |
Айзикович С.М., Кренев Л.И., Погоцкая И.В. |
г. Ростов-на-Дону, Россия,
г. Минск, Беларусь |
Анализ упругих свойств функционально-градиентных покрытий на основе аналитического решения контактной задачи |
|
16.00–16.15 |
Трубчик И.С., Евич Л Н. |
г. Ростов-на-Дону, Россия |
Расчетная модель деформирования тонких градиентных покрытий, лежащих на недеформируемом основании |
|
16.15–16.30 |
Абетковская С.О., Чижик С.А., Погоцкая И.В. |
г. Минск, Беларусь |
Влияние характеристик системы зонд–образец на колебания зонда в динамическом полуконтактном режиме атомно-силового микроскопа |
|
19.00 |
Торжественный ужин |
| |
|
14 октября 2010 г. |
|
10.00–11.00 |
СЕКЦИЯ 5. Прикладные аспекты СЗМ в промышленности.
Председатель секции – В.Л. Миронов |
|
10.00–10.15 |
Дубовой А.Н., Контюков Р.К., Кулаков В.А., Носов С.А., Пушкарский С.В. |
г. Юбилейный, Россия |
Использование АСМ НТ-206 в обеспечение работ по программе союзного государства “Нанотехнология СГ” |
|
10.15–10.30 |
Снежко Д.В., Рожицкий Н.Н. |
г. Харьков, Украина |
Использование сканирующей зондовой микроскопии при разработке электрохемилюминесцентных нанотехнологических сенсоров |
|
10.30–10.45 |
Курбаткин И.И., Муравьёва Т.И. |
г. Москва, Россия |
Использование методов электронной и зондовой микроскопии для исследования контактной поверхности подшипников скольжения |
|
10.45–11.00 |
Рудь М.П., Бойко В.П., Канашевич Г.В., Коваленко Ю.И., Рева И.А., Ващенко В.А. |
г. Черкассы, Украина |
Применение метода атомно-силовой микроскопии, как составляющей комплексной методики измерения параметров качества оптических изделий, обработанных низкоэнергетическим электронным потоком |
|
11.00–11.15 |
Игнатовский М.И. |
г. Гродно, Беларусь |
Зондовые методы контроля технологических параметров поверхности заготовок стекла на различных этапах обработки и изделий интегральной оптики |
|
11.15–11.30 |
Кофе-брейк |
|
11.30–13.00 |
СТЕНДОВАЯ СЕССИЯ
Председатель сессии – А.А. Суслов |
СТ 1
Короткое сообщение |
Кузнецова Т.А., Андреев М.А., Маркова Л.В. |
г. Минск, Беларусь |
Влияние размера добавок ZrO2 на структуру хромовых ионно-лучевых покрытий |
СТ 2
Короткое сообщение |
Бутвина Л.Н., Секацкий С.К., Ясинский В.М. |
г. Москва, Россия,
г. Лозанна, Швейцария,
г. Троицк, Россия,
г. Минск, Беларусь |
Ближнеполевая оптическая микроскопия инфракрасного диапазона |
СТ 3
Короткое сообщение |
Шарапов В.М., Филимонов С.А., Суслов А.А. |
г. Черкассы, Украина, г. Гомель, Беларусь |
Совершенствование пьезокерамических сканеров для зондовых микроскопов |
СТ 4
Короткое сообщение |
Бадалова З.И. кызы |
г. Баку, Азербайджан |
Применение методов сканирующей зондовой микроскопии в физических исследованиях |
СТ 5
Короткое сообщение |
Пинчук А.П., Демидова А.Е., Горошкова А.Н. |
г. Минск, Беларусь |
Метрологическое обеспечение линейных измерений в нанометровом диапазоне |
СТ 6
Короткое сообщение |
Chizhik S., Khudoley A., Kuznetsova T., Wierzcholski K., Miszczak A. |
Minsk, Belarus,
Gdynia, Poland |
Micro- and nanoscale wear studies of HDD slide bearings by atomic force microscopy |
СТ 7
Короткое сообщение
|
Карелин Н.В. |
г. Минск, Беларусь |
Использование сингулярного разложения для обработки данных сканирующей ближнеполевой оптической микроскопии |
СТ 8
Короткое сообщение
|
Колпащиков В.Л., Петров Д.А. |
г. Минск, Беларусь,
г. Н. Новгород, Россия |
Атомно-силовая микроскопия и флуктуации |
СТ 9
Короткое сообщение
|
Kukharenko L.V., Schimmel Th., Walheim S., Goltseva M.V., Aleinikova O.V.,
Shman T.V., Kukharenko A.A. |
Minsk, Belarus,
Karlsruhe, Germany |
Scanning Force Microscopy study of k562 cells with and without etoposide treatment |
СТ 10
Короткое сообщение |
Гилевская К.С., Грачева Е.А., Шутова Т.Г., Агабеков В.Е. |
г. Минск, Беларусь |
Изучение морфологии микрокапсул на основе биополиэлектролитов методом сканирующей зондовой микроскопии |
СТ 11
Короткое сообщение |
Гольцев М.В., Кухаренко Л.В., Гольцев В.П., Баран Л.В. |
г. Минск, Беларусь |
Применение атомно-силовой микроскопии в исследованиях морфологии поверхности композиционных ионно-плазменных покрытий и ионно-легированных материалов |
СТ 12
Короткое сообщение |
Муравьева Т.И., Курбаткин И.И. |
г. Москва, Россия |
Исследование морфологии поверхности контакта методом СЗМ после трибологических испытаний различных материалов |
СТ 13
Короткое сообщение |
Крень А.П., Абетковская С.О., Наумов А.О., Чижик С.А. |
г. Минск, Беларусь |
Определение функции ползучести полимерных материалов методом атомно-силовой микроскопии |
СТ 14
Короткое сообщение |
Дрозд Е.С., Глеб Е.Ю.,
Жорник Е. В., Нгуен Хоай Тьяу,
Лапотко Д.О., Чижик С.А. |
г. Минск, Беларусь |
Оценка взаимодействия наночастиц с биологическими клетками |
СТ 15
Короткое сообщение |
Соломянский А.Е., Жавнерко Г.К., Каратай Н.В., Агабеков В.Е. |
г. Минск, Беларусь |
Морфология пленок Ленгмюра–Блоджетт жирных кислот |
|
13.00–14.00 |
Перерыв на обед |
|
14.00 |
Научно-производственная экскурсия |
| |
|
15 октября 2010 г. |
| |
СЕКЦИЯ 6. Смежные вопросы физики и химии наноструктур, микро-, наномеханики, микро-, нанотрибологии.
Председатель секции – Т.Е. Суханова |
|
9.00–9.15 |
Айзикович С.М., Васильев А.С., Погоцкая И.В. |
г. Ростов-на-Дону, Россия,
г. Минск, Беларусь |
Оценка модуля сдвига неоднородной среды методом кручения |
|
9.15–9.30 |
Мельникова Г.Б., Жавнерко Г.К., Чижик С.А. |
г. Минск, Беларусь |
Структура и механические свойства пористой основы, модифицированной пленками Ленгмюра–Блоджетт |
|
9.30–9.45 |
Парибок И.В., Жавнерко Г.К., Агабеков В.Е. |
г. Минск, Беларусь |
Исследование морфологии композиционных пленок полиэтиленимин/магнетит/поли-акриловая кислота методом атомно-силовой микроскопии |
|
9.45–11.00 |
КРУГЛЫЙ СТОЛ. ЗАКРЫТИЕ КОНФЕРЕНЦИИ |
|
11.00–12.00 |
Перерыв на обед |
|
12.00–13.00 |
Экскурсионная программа |
